统计法：测定矿物颗粒折射率，不需锥偏光镜

统计法（Statistical method）的作法是测定10个以上的矿物颗粒，把其中最大的折射率当作是二轴晶的Ng、一轴正晶的Ne和一轴负晶的No，把其中最小的折射率当作是二轴晶的Np、一轴正晶的No和一轴负晶的Ne。第六章第二节中已述，平行一个主轴的切面出现的概率为17.5%，10个颗粒中一般至少会有一个颗粒，其主轴之一会平行载物台平面，从而能测到主折射率。因此，统计法实际上是不用锥偏光镜确定方位的定向切面法。

斜照法和环形屏蔽法最有利于用统计法测定主折射率。斜照法和环形屏蔽法可以同时观察视域中所有矿物颗粒，不必逐个地比较N矿与N油的相对大小，一眼就可以看出哪个颗粒的哪个方向折射率最高或最低，测定起来最为方便。

环形屏蔽法测定主折射率时，首先用直照法或斜照法比较N矿与N油相对大小，通过换油使N油与N矿在可见光范围内相等，出现色散效应后，再用环形屏蔽法进行观察。环形屏蔽法测定矿物主折射率的操作详见第七章第三节。(www.xing528.com)

用斜照法测定矿物主折射率时，如果用白光源，首先用明暗边法比较N矿与N油相对大小，通过换油出现色散效应后再用彩色边法进行观察。更换浸油，使少数（10%～15%）矿物颗粒出现橙红边、天蓝边各半，且亮度相等，其他颗粒呈现挡板同侧暗蓝、全暗等，挡板异侧亮橙、白亮等（轻动盖玻片，使矿物颗粒翻动，仍然是该种情况），则此时N油等于矿物的最小折射率。然后更换高折射率浸油，使少数颗粒呈现橙红边、天蓝边且亮度相当，其他颗粒呈现挡板同侧亮蓝、白亮等，异侧暗橙、全暗等（翻动矿物颗粒，仍然保持该种情形），则此时N油等于矿物的最大折射率。矿物的最大、最小折射率测出后，即测出了一轴晶的Ne、No或二轴晶的Ng、Np。

二轴晶的Nm最好还是在垂直OA的定向切面上进行测定。在正交偏光镜下选择全消光颗粒（如果没有，轻动盖玻片，使视域中出现这种颗粒为止）。单偏光镜下用斜照法观察矿物表面的彩色边，据色边效应换油，直到垂直OA矿物颗粒表面呈现挡板同侧天蓝，异侧橙红，且两边亮度相当为止，则此时的N油=Nm。矿物Nm的测定实际上仍是用定向切面法。