（1）在偏光显微镜下，对整个岩石薄片，按从左到右、从上到下的顺序对所要鉴定的矿物扫描一遍（图6-5），初步了解矿物的晶形、解理、颜色、多色性、干涉色、消光类型、双晶、轴性等特征，以确定需鉴定描述的内容。
在扫描过程中，要根据需要更换显微镜的放大倍数和光路系统。不同光路系统显微镜下能鉴定的矿物光学性质很多，但对一个具体矿物并不是所有这些光性都需要测定。如矿物没有解理，就无需测定解理夹角和对解理进行描述；没有颜色，就没有必要测定多色性公式和吸收性公式；平行消光，就不必测定消光角公式；等轴粒状，就免去了测定延性；一轴晶，就不必估计2V大小；等等。
对薄片进行扫描，目的是确定需要鉴定的内容和拟定鉴定的方案。如对于解理，只需了解矿物是否具有解理、有几组解理、能否测到解理夹角以及能观察到解理等级和能测定解理夹角的切面位于薄片什么位置；对于颜色，要了解多色性的强弱、各主轴方向的大致颜色、测定多色性公式选择什么样的切面以及这种切面在薄片哪些部位可以找到；对于干涉色，要了解矿物最高干涉色大致有多高、用什么方法测定、选择什么样的切面测定，以及这种切面位于薄片哪个部位；等等。
有些性质，如晶形，在扫描过程中即可求得。大多数光学性质，需在选择的定向切面上进行测定。但如果在扫描过程中发现了难以寻找的定向切面，也可当即完成在该切面上的鉴定操作。如解理夹角，需要在同时垂直两组解理面的切面上进行测定，如果在扫描过程中发现了这种切面，而且这种切面又很少，应暂停扫描，完成解理夹角的测定工作。
（2）选择垂直OA切面，该切面的特征是单偏光镜下无多色性，即使是有色矿物也无多色性，正交偏光镜下全消光，锥偏光镜下为垂直OA切面干涉图。选好切面后，首先在锥偏光镜下确定矿物的轴性和光性符号，若为二轴晶，估计出2V大小；然后在单偏光镜下观测No（一轴晶）或Nm（二轴晶）的突起等级以确定折射率大小范围，若为有色矿物，再测定No或Nm的颜色。
（3）选择平行OA（一轴晶）或平行OAP（二轴晶）切面，此种切面的特征是单偏光镜下无色矿物闪突起最明显，有色矿物多色性最强，正交偏光镜下干涉色最高，锥偏光镜下为闪图。选好切面后，在轴性已知时，首先在锥偏光镜下测定光性符号，然后退出锥偏光系统，在相应的光路系统下测定其他光学性质。如在正交偏光镜下测定干涉色和双折射率，即求得矿物的最高干涉色和最大双折射率；在单偏光镜下观测No、Ne或Ng、Np的突起等级以求得折射率的大小范围；若为有色矿物，可分别测定出No、Ne或Ng、Np的颜色和吸收性。具有闪突起的矿物，可在此种切面上观察闪突起的明显程度。单斜晶系矿物可在此种切面上测定消光角公式。
（4）选择垂直解理面的切面，确定解理的完善程度。若具有两组解理，选择同时垂直两组解理面的切面，测定解理夹角。(www.xing528.com)
（5）选择其他定向切面，测定消光角公式。单斜晶系矿物一般选择平行OAP切面进行测定，三斜晶系矿物要看具体矿物而定。如斜长石一般选择垂直（010）切面，测定Np′∧（010）的大小。
（6）对一向延长或二向延长的矿物，要选择一向延长的切面，测定延性符号。
（7）若矿物具有双晶，要确定其双晶类型。在矿物颗粒较多的情况下，选择垂直双晶结合面的切面，尽量确定出双晶面、双晶轴的名称和双晶律。
（8）观察其他特征，如矿物所含包裹体特征、次生变化产物等。
（9）归纳鉴定结果，查有关光性鉴定图表，尽可能定出矿物种属和亚种名称，画出光性方位图，写出鉴定报告。
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