不同的光学性质需要在不同光路系统的偏光显微镜下进行测定。有些光学性质必须在定向切面上进行测定，需要用不同光路系统的显微镜选择切面，但光学性质的测定最终要在某一种光路系统偏光显微镜下进行。不同光路系统偏光显微镜测试的内容如下。
（一）单偏光镜下测试内容
晶形 观察不同方向切面的形态，以查明矿物的单体形态、自形程度和矿物的集合体形态。
解理 观察不同方向的切面，查明矿物是否有解理、有几组解理以及每组解理的完善程度。如果有两组以上解理，需要测定各组解理之间的夹角。
突起等级 根据切面边缘、糙面特征以及贝克线移动规律，确定矿物的突起等级，以估计出矿物折射率大小范围。如果是非均质体，观察是否有闪突起及闪突起的明显程度。
颜色、多色性 对有色的均质体矿物，要查明其颜色的色彩和浓淡；对有色的非均体矿物，要测定其多色性公式和吸收性公式。
（二）正交偏光镜下测试内容
最高干涉色级序 选择一轴晶平行OA的切面、二轴晶平行OAP的切面测定矿物的最高干涉色。观察矿物有无异常干涉色，如果有，则要测定异常干涉色级序。
最大双折射率 用最高干涉色查干涉色色谱表，求出矿物最大双折射率。
消光类型及消光角 观察不同方向切面的消光类型，大致确定矿物所属晶系。若矿物具斜消光，要选择定向切面测定消光角并写出消光角公式。
延性符号 对一向和二向延长的矿物，要选择不同方向的切面测定其延性符号。(www.xing528.com)
双晶 观察矿物是否具有双晶。对具双晶的矿物，要确定双晶是简单双晶还是复式双晶；在有定向切面的情况下，尽可能确定出双晶律。
（三）锥偏光镜下测试内容
均质体和非均质体 对正交偏光镜下全消光的切面，在锥偏光镜下看是否有干涉图，有者为非均质体，无者为均质体。
轴性 据干涉图像特征，确定矿物是一轴晶还是二轴晶。
光性符号 无论是一轴晶还是二轴晶，都要测定光性符号。一轴晶测定光性符号可利用的切面顺序为：垂直OA切面，近于垂直OA切面，平行OA切面，近于平行OA切面，斜交OA切面。二轴晶测定光性符号可利用的切面顺序为：垂直OA切面，近于垂直OA切面，平行OAP切面，垂直Bxa切面，近于垂直Bxa切面。
光轴角 若为二轴晶，利用垂直Bxa切面干涉图和垂直OA切面干涉图测定或估计出2V大小。
不是所有的矿物都要全部测定上述光性，鉴定内容的多少要视具体矿物而定。例如，无色矿物就不测定多色性、吸收性公式；无解理的矿物就没有观察解理的内容；平行消光者就不需测消光角；等等。
晶形既可在单偏光镜下，也可在正交偏光镜下观察。尤其是极低突起的无色矿物，边缘不显，在单偏光镜下其形态难以看清楚，最好改到正交偏光镜下观察。因为在正交偏光镜下，不同的切面其干涉色一般情况下是不一样的，不同的干涉色调将切面形态清楚地显示出来。
多色性、吸收性公式要用单偏光镜、正交偏光镜、锥偏光镜联合起来测定：单偏光镜、正交偏光镜、锥偏光镜下选择切面；正交偏光镜下测定光率体椭圆半径名称；单偏光镜下观察颜色。
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