（一）图像特征
二轴晶平行OAP切面的干涉图与一轴晶平行OA切面的干涉图类似，也为闪图或瞬变干涉图。0°位为粗大模糊的黑十字，稍转物台，黑十字即从中心开始分裂成两条弯曲的黑带，转物台10°左右，黑带完全退出视域。45°位干涉色最亮，且呈对称分布：一对对顶象限，由中部向外，干涉色降低，另一对对顶象限，由中部向外，干涉色升高，干涉色升降幅度不大，一般边缘相对中部升降一至两个色序（图5-26）。
图5-26 二轴晶平行OA切面的干涉图
（二）干涉图的成因
图5-27 二轴晶平行OAP切面波向图（A）及其干涉图中光率体椭圆半径的变化（B、C）
二轴晶平行OAP切面波向图见图5-27A。0°位时，即Bxa、Bxo分别与PP、AA一致时，大部分区域处于消光位和近于消光位，形成粗大黑十字，仅四个象限的边缘区域，光率体椭圆半径与PP、AA稍微斜交，出现灰干涉色。45°位时，整个视域光率体椭圆半径与PP、AA成45°交角或近45°交角，干涉色最亮。如图5-27B所示，正光性光率体：沿Bxa方向由中心到边缘，双折射率的变化趋势是（Ng-Np）→（Ng′-Np）→（Nm-Np）；沿Bxo方向，由中心到边缘，双折射率的变化趋势是（Ng-Np）→（Ng-Np′）→（Ng-Nm）；无论是沿Bxa方向还是沿Bxo方向，从中心到边缘双折射率都是变小的。但由于二轴晶正光性矿物当2V不接近90°时，（Ng-Nm）＞（Nm-Np），沿Bxa方向的双折射率降低幅度（Ng-Nm）大，而沿Bxo方向的双折射率降低幅度（Nm-Np）小。而负光性矿物（图5-27C）：沿Bxa方向由中心向外，双折射率的变化趋势是（Ng-Np）→（Ng-Np′）→（Ng-Nm）；沿Bxo方向由中心向外，双折射率的变化趋势是（Ng-Np）→（Ng′-Np）→（Nm-Np）。由于负光性矿物当2V不接近90°时，一般是（Ng-Nm）＜（Nm-Np），同样是沿Bxa方向的双折射率降低幅度（Nm-Np）大，沿Bxo方向双折射率降低幅度（Ng-Nm）小。同时，由中心向外，光线通过矿片的距离是逐渐增加的。沿Bxa方向双折射率降低幅度大，通过矿片距离的增大引起的干涉色升高不足以抵消双折射率减低而引起的干涉色降低，因此干涉色仍然是降低的，但由于抵消了一部分，干涉色降低的幅度不大。沿Bxo方向，双折射率降低的幅度小，通过矿片距离的加大引起的干涉色升高超过了双折射率降低引起干涉色降低，使总的干涉色逐渐升高，但由于被双折射率的降低抵消了一部分，干涉色升高的幅度也不大。
（三）干涉图的应用
二轴晶平行OAP切面的干涉图与一轴晶平行OA切面的干涉图都是闪图，单凭这种干涉图不能区分轴性。当轴性已知时，闪图有如下用途。
1.确定切面方向
二轴晶平行OAP切面在矿物鉴定中是一个非常重要的切面，许多光学性质要在该切面上测定。判断切面是否平行OAP，除了单偏光镜和正交偏光镜下的特征外，锥偏光镜下的重要特征就是干涉图为闪图。闪图闪得愈快，即黑十字分裂成的两条黑带退出视域所需旋转物台的角度愈小，45°位干涉色分布愈对称，则表示切面愈接近平行OAP。(www.xing528.com)
2.测定矿物光性符号
矿物光性符号的测定必须在45°位（或135°位）的干涉图上进行。首先要确定Bxa、Bxo的位置或方向。确定Bxa、Bxo的位置或方向有两种方法，一种是根据干涉图中干涉色的对称性确定，当矿物最高干涉色较高，干涉图中干涉色出现数个色序时采用该法。确定的方法是：干涉色由中部向外降低的两个象限的连线为Bxa方向；干涉色由中部向外升高的两个象限的连线为Bxo方向（图5-28A）。然后加入试板，根据干涉色的升降判断Bxa方向是光率体椭圆的长半径还是短半径。因为平行OAP切面的光率体椭圆半径是Ng和Np，若Bxa方向是长半径，即Bxa=Ng，则矿物光性符号为正（图5-28B）；若Bxa方向是短半径，即Bxa=Np，则矿物光性符号为负（图5-28C）。
图5-28 利用二轴晶平行OAP切面45°位干涉图测定矿物光性符号
确定Bxa、Bxo的位置或方向的另一种方法，是根据0°位干涉图旋转物台时黑十字退出视域的方向确定。
与一轴晶平行OA切面干涉图类似，0°位干涉图为粗大黑十字，几乎占满整个视域。稍转物台，黑十字从中心开始分裂、逃出视域。转物台12°～15°，黑十字完全退出视域，黑十字退出的方向即Bxa方向。转物台45°，Bxa方向与十字丝成45°交角。
确定Bxa、Bxo的位置或方向后，加入试板，根据干涉色升降判断Bxa、Bxo相对大小，再根据Bxa、Bxo相对大小确定矿物光性符号。
图5-29 二轴晶垂直Bxo切面的干涉图
（引自陈芸菁，1987）
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