升降物台或镜筒时,贝克线会相对边缘平行移动。由于折射和反射,光线折向折射率高的介质一方。当准焦在矿片表面附近时,如图3-3B所示,焦平面为F1F1,此时成像最清楚,贝克线位于折射率大的一方,且相对靠近边缘。当准焦在较远离矿片表面的上方时,焦平面移至F2F2,贝克线仍位于折射率大的介质一方,但相对远离边缘。因此,下降物台(或提升镜筒),焦平面从F1F1升至F2F2,贝克线相对边缘向折射率大的介质一方移动;提升物台(或下降镜筒),焦平面从F2F2降至F1F1,贝克线相对向折射率小的一方移动;如果焦平面降至F3F3,贝克线将位于折射率小的介质一方,即贝克线从折射率大的介质一方移到折射率小的一方。为了便于记忆,只要记住“下降物台,贝克线向折射率大的介质一方移动”即可。贝克线的这一移动规律是比较两相邻介质折射率相对大小的最主要依据之一。
为了清楚地见到贝克线,准确比较相邻两物质折射率的相对大小,操作上要注意以下几点:
(1)不加聚光镜,尽量使入射光线为平行直照光线。
(2)选择边界比较平直、接触面比较平缓(边缘较宽)、杂质(包裹体或蚀变风化矿物)较少的部位。
(3)把观察对象移至视域中心,让它位于中心直照光线的透射途中。(www.xing528.com)
(4)选用合适的物镜。一般用中倍物镜,仅在观察非常细小的颗粒时才改用高倍物镜。
(5)适当缩小锁光圈。这一方面是为了尽量多的挡去斜照光线,另一方面是为了使视域适当变暗,让微弱的贝克线显示出来,尤其是两介质折射率相近时,越要缩小锁光圈。
(6)升降物台时,速度要适宜,幅度不能太大。反复观察时,每次要从准焦位置开始升降。升降物台一般用微调螺旋,尤其是使用高倍物镜时,只能用微调螺旋。
若矿物折射率比树胶折射率大得多时,观察矿物的贝克线,发现提升镜筒贝克线不是移向矿物一方,而是移向树胶一方;有时又发现有两条亮带,提升镜筒,一条向矿物一方移动,另一条向树胶一方移动。这些移动规律异常的“贝克线”,称为“假贝克线”(False-Becke line)。产生假贝克线的原因很多,主要与两介质折射率差值太大和接触面不规整有关。初学者遇到假贝克线或怀疑它是假贝克线时,最简单的处理办法就是放弃对这一部位的观察,而改选其他合适的部位进行观察,或改用中心明暗法和斜照法比较折射率相对大小。中心明暗法:下降物台,矿物中心变亮,范围变小、变清晰,则矿物折射率大于树胶折射率(因矿物起凸透镜作用,使光线聚敛);下降物台,矿物中心变暗,范围变小,变模糊,则矿物折射率小于树胶折射率(因为矿物起凹透镜作用,使光线分散)。斜照法详见第七章第三节。
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