正如上一小节所述,光时域反射计技术是一种有效测量光纤中衰减分布的技术。如果以一种确定的方式使某外部场能够影响衰减的修正,那么,利用光时域反射计技术,沿光纤长度相应配置该场强度,从而就对该场形成了分布式测量。的确,在1986年,依靠掺稀土光纤中温度与吸收的关系,曾研究过此类方法[3]。但方法存在一些缺点,其中最重要的是,一段中的测量灵敏度取决于另一段有多少吸收(即取决于其温度)。
能够成功测量温度分布的一种方法是以本书9.8节介绍的非线性拉曼效应为基础。在讨论石英中拉曼效应的起因时注意到,假如该效应是自发的(非受激),那么反斯托克斯辐射就取决于相应的虚能级从受激态拉出的粒子数。因此,反斯托克斯辐射的强度按下面形式变化:
式中,hν10为基态与分子的旋转/振动受激态之间的能量差。还要记住,只有介质处于绝对温度为T的热平衡状态下,该规律才是正确的。也就是说,测量光纤中温度分布时,Ia对温度的依赖关系。
为了模拟拉曼散射,假设,将一个具有足够强度的窄泵浦脉冲输入光纤(单模或多模)的一端。散射量随λ-4变化,符合非结晶介质的散射原理。一部分各向同性散射(仍然是介质非结晶性质的原因)将后向散射到光纤的入射端。因此,与后向散射一样,能够在光学泵浦频率处观察到普通的瑞利散射,以及在瑞利谱线任一侧的波长处出现斯托克斯(s)和反斯托克斯(a)拉曼辐射的宽光谱。此外,后向散射光谱随时间的变化将表明光纤的拉曼散射性质随位置变化。这与光时域反射计技术一样,是因为任一给定时间都对应着一个脉冲在光纤中的位置。
假设,选择专门确定的窄带(约1nm)的a和s辐射,到泵浦频率的间隔相等。显然,对此最方便的位置就是靠近a和s光谱中最大值的位置,出现在距泵浦谱线±15nm处(见本书图9.11)。当然,泵浦与选择带之间的频差对应着一个特定的旋转或振动能级。因此有:
νa=νp+ν
νs=νp-ν
式中,νp为泵浦光频率。由于s辐射与温度无关,所以可以很方便地用作参考能级以消除光源振动和光纤衰减的影响。因此,(利用一台单色仪,即一个衍射光栅)测量出νp+ν和νp-ν两个位置的Ia,并得到下面比值:
由于其他参数都是常数,所以RT是对温度T的直接测量。根据时间函数测量出RT就会得到光纤中不同位置的温度。这是一种很方便的分布式温度测量传感器。此外,可以测量绝对温度,并且与光纤材料无关。为了处理该信号,简单地对式(10.21)取对数,有:
由于在温度θ时是一个基准部分,所以可以消除等式右端第一项,因为:(www.xing528.com)
将上面两个公式相减得
图10.25所示就是为实现这种思想而给出的实际结构布局图,对应着图10.26所示测量出的温度分布。注意到,使用一个雪崩光敏二极管(Avalanche Photodi-ode,APD)作光电探测器。这也可以应用在光子计数模式中,因为给雪崩光敏二极管适当加一偏压,每个输入光子都将产生一股电子。进一步详细地考虑一下,利用近似量为该测量系统设计一种光子技术系统是非常有益的。
图10.25 拉曼效应分布式光纤温度测量系统
图10.26 测量出的温度分布(利用图10.25所示的系统)
首先,泵浦功率不要太高,因为一定不能出现受激拉曼增益,否则热平衡不再保持,拉曼后向散射就不能用于介质温度的计量。假设,峰值泵浦功率为1W,脉冲的持续时间将确定测量的空间分辨率。假设技术要求为1m,对应着10ns的脉冲持续时间(记住,2l=cgt,光纤中cg约为2×108m/s),脉冲能量为10nJ。如果泵浦的光学波长为1μm,则10nJ中的光子数为
在106个光子中大约有1个是拉曼散射(就是约105个)。由于斯托克斯散射是较强过程,所以只有10%,即约104为反斯托克斯散射;只有极少部分,约5×10-3会后向传播到光纤入射端,大约50个。现在讨论光纤、分束镜和单色仪中的损失及探测器的量子效率,希望每1m分辨率长度只能探测到约5个光子。在本书1.7节已经介绍过,N个光子的信噪比为N1/2。如果要求测量精度为1%(信噪比是100%),那么N至少为104。为了达到这种精度,必须在约2000(即104/5)个泵浦脉冲范围内积分。若光纤的整个长度是1km,这意味着,为了完成测量必须等待约(2000×10-5)ms=20ms的时间。若测量大型结构的温度,由于这些结构的热时间常数(或热时常数)较大,该时间是可以接受的。然而,光子计数技术对目前应用是很昂贵的,目前市场上使用的“分布式测温系统(Distributed Temperature System,DTS)”并没有采用这一技术,它们使用模拟模式的雪崩光敏二极管及晶体管放大器。若光纤长度是4km,1m的空间分辨率和10s的标准测量时间,那么这种系统的最好工作精度是±0.1°。该系统还在不断演化发展。需要更小的分辨率间隔。然而,减小该间隔意味着减小脉冲宽度,从而有更小的能量,由于不可能提高峰值脉冲功率(受激拉曼),所以会降低信号电平。还意味着,需要一个更快的光电探测器(因为脉冲更短)。这也表明有更多的噪声(更大的带宽),因此增大了测量时间或者使总长度更短。照例,这些都是系统设计中的问题——需要折中和平衡的艺术。
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