宽频带宽角度电磁散射快速分析及成像的后续工作和展望

矩量法和多层快速多极子的发展已经使其能够成功地用于解决各种电磁散射的问题。但是，科学研究是一个不断发展的永无止境的过程，科学研究中与工程上不断出现的新问题不断促进着矩量法和多层快速多极子技术的进一步发展。由于时间短促和作者水平的不足，论文中还有不少不足之处。书中对许多算法只做了比较粗浅的研究，对于宽频带和宽角度扫描算法的研究还有许多后续工作要做，下面对进一步的工作与有价值的研究方向提出一些个人建议。

(1)对插值方法的研究。在书中，仅仅只采用了渐近波形估计的外推和内插技术对宽角度RCS进行快速扫描。由于插值方法与物理过程紧密相连，一个插值方法是否合适主要看插值核是否能够有效地描述问题本身。因此，对已经提出的其他插值方法，如正交多项式(包括Hermite多项式、Chebyshev多项式)等均可进行深入探讨和研究。

(2)对自适应策略的研究。在书中，自适应策略的思想是通过直线模型和样条模型互相比较，来获得曲线的相关信息的。这种策略稍显简单，且效果依赖于初始采样点。对于自适应采样的问题，有学者提出利用Fisher信息，也有学者提出基于物理模型，如何构造一个稳定、有效的自适应策略，值得进一步研究。(www.xing528.com)

(3)对宽频带散射特性快速分析的研究。书中采用两种方法分析目标的宽带特性，即矩阵插值方法和散射中心的方法。矩阵插值的方法虽然降低了计算时间，但增加了内存开销，使得分析大规模问题时捉襟见肘；散射中心的方法主要依赖物理模型，该方法仅仅只在谐振区和高频区有效，且分析的带宽有限，原因是强散射中心点本身是随着频率变化的。综上，针对宽频带特性分析的问题，仍旧是一个研究难点，如何根据问题本身的特点，构造合适的快速算法，值得进一步研究。

(4)书中仅仅分析了理想导体目标的散射，对于介质目标、介质-金属目标、损耗媒质、涂层目标等问题，书中没有一一考虑。将书中的方法进行扩展，用于各种复杂结构、复杂媒质、复杂环境下的目标的宽频带和宽角度散射特性，值得进一步研究。