玉石分析中的直流辉光质谱法应用效果

辉光放电质谱法（GD-MS）分析玉石类样品，一方面极大拓展了辉光放电质谱法的应用范围，因为该方法主要用于高纯金属和半导体材料的分析，对于地质类样品的分析并不多见；另一方面玉石元素数据库的建立对于地质学及一些考古学问题有着很重要的意义，能够解决一些实际问题。

Siqin Bilige等［15］运用直流辉光放电质谱混合放电方法研究玉石的特征性元素与产地、地质成因等的关联。实验中，运用铟作为辅助放电金属研究来自不同产地的23个玉石样本（图6．5），分析了软玉的主量、次量和微量元素。一般白云石大理岩成因的软玉（D型）中Fe、Cr、Co及Ni等元素含量较低，而蛇纹石成因的软玉（S型）中Fe、Cr、Co及Ni等元素含量较高，可以通过这些元素含量很好地区分两种成矿类型的软玉。此外来自汶川地区的软玉和小梅岭地区的软玉有某些特征元素，这些都是由于其独特的地质环境造成的，通过这些特征元素能够区分这些来自特定地区的软玉。结合统计分析方法，观察到软玉的元素组成和其成矿类型、地质环境有着密切关联，并且运用INAA与LA-ICP-MS方法来验证GD-MS分析数据的准确性，结果表明三种方法分析结果吻合度很好，进一步说明GD-MS分析结果具有理想的准确性。

图6．5 GD-MS研究来自不同产地玉石主成分元素［15］(www.xing528.com)

前期工作中，由于辅助放电金属铟会对稀土元素的测定造成一定的干扰（如115In36Ar＋会对151Eu＋造成干扰），因此未能准确测定稀土元素的含量，而稀土元素对玉石产地的研究与鉴定非常重要。后期工作中，Siqin Bilige等［16］采用金属钽槽方法克服金属铟可能引起的干扰，准确测定了14种玉石中的稀土元素，结合主成分分析方法可以更加有效地对不同产地的玉石进行区分。研究工作进一步表明，辉光放电质谱方法分析玉石能够提供主体成分、微量元素特征等非常全面的信息，对于了解玉石的成矿演变、地质环境等均有非常重要的指导意义。