仪器分析：分子式确定方法

应用质谱数据确定分子式有同位素相对丰度法和精密质量法两种方法。前者适用于低分辨质谱仪和部分色谱-质谱联用仪测得的质谱，后者要求采用高分辨质谱仪。

1.同位素相对丰度法

对于C、H、O、N元素组成的分子，可根据它们的天然丰度比数据，计算由同位素存在形成的[M+1]+、[M+2]+与M+的强度比。Beynon等由此计算出按离子质量顺序排列的数据表，称为Beynon表。使用该表时，通过质谱测得的分子离子峰的质荷比，以及[M+1]+和[M+2]+的相对质量分数，可从表中查出可能的分子式或碎片离子的元素组成。现代质谱仪配备的数据库能够提供C、H、O、N元素的化学组成的精确质量和同位素丰度比。

如果分子式中还有卤素或硫等其它元素，可根据天然丰度比数据进行分析确定，从对应的M+、[M+1]+和[M+2]+与中除去，根据Beynon表推断可能化学式后再加上扣除的元素，即为所求分子式。(www.xing528.com)

2.高分辨质谱精密质量法

高分辨质谱法测定离子质荷比可测得小数点后4位以上数字，将实测分子离子峰的准确质量数与精密相对分子质量表核对，并综合其它信息，即可推测分子式。

现代质谱仪的质谱工作站一般配备有质谱数据库。另外可以通过网络查询，常见的有NIST（National Institute of Standards and Technology，美国国家标准与技术研究所）的质谱库、AIST（National Institute of Advanced Industrial Science and Technology，日本产业技术综合研究所）质谱库。这些质谱库的质谱图是以电子轰击源测定的数据库，但是两个质谱库对同一化合物的测得的质谱图是有差异的（例如质谱中的各离子峰相对强度），因为测定的样品气化温度、离子源的轰击电子能量以及真空条件等不可能完全相同。