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残余奥氏体分析与检测方法

时间:2023-10-29 理论教育 版权反馈
【摘要】:5.6.2.2衍射峰采集采集样品衍射峰;把探测器放在要测峰对应的正确角度;用手动或自动聚焦;打开X射线。

残余奥氏体分析与检测方法

5.6.1 概述

使用Proto XRDWin可以用两种不同的方法测试残余奥氏体,分别是表征方法和平均峰法。

5.6.2 平均峰法

该法使用四个不同的峰来确定残余奥氏体的量,每个峰的R值和强度都计算出来。使用Cr靶的特征峰是:马氏体(211)、(200)和奥氏体(220)、(200),需要滤波片去除Kβ线。

5.6.2.1 配置

左边的探测器通常同来连续采集所有相的衍射峰,不适用于第二个探测器(右边)。

主菜单中选:配置—用户配置。

出现如下对话框:

不要选中探测器2。

系统可以只用一个探测器采集。

5.6.2.2 衍射峰采集

采集样品衍射峰;把探测器放在要测峰对应的正确角度;用手动或自动聚焦;打开X射线

(1)在采集常数对话框中输入探测器1对应的β角值,β角定位在对应的Psi=0,Psi=β-(π-2θ)/2对探测器1加负号。

(2)选择采集时间和摆动角(推荐100 s)。

(3)采用Single Exposure技术,采集所有衍射峰的衍射峰和背底,或者先采集所有峰的衍射峰,最后采集背底。

(4)采集完每个衍射峰,保存结果。

(5)记录文件名。

5.6.2.3 奥氏体采集计算

选择顶部工具栏奥氏体、平均峰值法和平均峰值法迷你计算:

以下对话框将会出现:

计算程序的平均峰值法相同。可以加载已经收集到的峰。启动应用程序,按下列步骤。

采集:需要在每个峰值处测量。

在每一处采集时都应遵循以下步骤:

手动:在每一次采集结束后手动移动探测器,确定测量时的角度正确。

背底:采集增益而不是轮廓。(www.xing528.com)

程序执行奥氏体测量如下:

(1)位置示例使用手动或自动对焦指示器和位置检测器收集第一峰,α(211),156°。

(2)点击X射线并点击确定。

(3)在对话框中,点击对话框中样品的化学组合物的按钮,进入化学成分按平均峰值法(化学成分表见加载文档结束)。

(4)选择配置参数。

(5)检查选项。

(6)点击装载,峰采集开始。

(7)如果增益是不可用的,可以通过在样品上面加增益垫片收集。

(8)在增益采集结束后可以重新恢复测量(一定要取消增益)。

(9)一旦测试完成后,软件将显示在对话框中完成。选择下一个峰值开始测量。

(10)将探测器移动到下一个位置角γ(220,128)并单击加载。

(11)其余峰值采集同以上步骤。

测量结束时,软件将显示计算结果、该比例与相应的峰,如果增益是必要的,可单独收集每一个峰。也可以使用主菜单中相应的峰值加窗后点击采集—增益。

在第一次采集结束后,手动采集背底可以用作以后每个峰的背底。修改R值,可以点击每个对话框的中心R值按钮,输入R值,下面的窗口打开:

测试结果会出现在下一窗口,对于每个峰值,做一个合适的调整,但调整ROI尽可能地靠近峰值来选择必要的数据。

加载化学成分组成

修改化学成分来改变R值,点击Table。

在红色的元素中选择添加,点击“确定”,不同于红色的元素是指定元素,灰色元素表示不可用元素,需要其他扩展选项。

(1)在第一个框中输入元素名称并点击保存来保存化学成分。

(2)点击加载来加载化学元素

(3)点击去除来除去化学成分。

(4)输入化学成分的百分比

(5)Fe占剩余的百分比。

(6)含量在2%以下的元素没有必要输入。

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