在一个β角收集衍射峰信息。
5.1.1 衍射峰采集
在程序主菜单，选择单次曝光，再选择采集➨轮廓：
出现下面的对话框，对话框中第一栏采集常数中，曝光一栏根据需要可以改动，其中曝光次数增益是取背底用。β角一栏是探测器到一个Φ角后测试的摆角，一般为3°，光圈则是所用光圈光斑的直径大小：
第二栏是拟合常数，这一栏主要是峰值定位的选择，一般为Gaussian（高斯）法，当然用户也可以根据自己需要选择其他方法。
第三栏是材料图，这一栏主要选择辐射类型（根据自己所用靶材选择，一般为Cr Cu Mn＿K-Alpha），还有就是材料选择，同样也是根据自己所用的材料来选择，当然，如果没有自己所要的材料，可以自己添加材料，具体见相关的手册说明。
所有参数选择完毕以后点击应用、确认，出现以下对话框，该对话框显示所有设置的参数，检查参数正确后点击确认进行测试：
采集结束后，就会显示衍射峰。下面的窗口会显示采集的真实峰：
单击窗口，扣除背底衍射图如下。如果再点击，背底就会去除并应用拟合：
用鼠标调节窗口中的黑色虚线和绿色波浪线，绿色波浪线两端与两条虚线相交，并且与所得到的峰对称，注意尽量让峰完整地在两条虚线中间，不应把峰取得太窄。
上面显示的峰可以接受，如果峰不在探测器中间的合适位置，可以移动探头收集信息，可以重复移动和采集，直到峰正好在探测器的中间，重复的文档可以覆盖。
浏览衍射峰窗口、单机窗口，峰位可以通过常数对话框中已经选择的峰位法计算出来，在每个峰位的右侧显示峰的位置。
5.1.2 单信息采集
采集背底时，必须先选好合适的靶材和样品的背底片材料。这可以在测试样品时用没有衍射峰以相近方式扩展的不同材料来获得。对于大多数材料，最合适的背底材料如下：
（1）铁素体，马氏体（BCC）材料：黄铜片。
（2）奥氏体，镍基（FCC）材料：铁垫片或β-钛片。(www.xing528.com)
（3）钛基（BCC，HCP），铝合金（FCC）材料：玻璃片。
其他可根据要求定制。
关闭X射线，放置背底材料后，使用手动或者自动技术调节高度。
打开X射线。
在软件上选择采集➨GAIN（增益）：
出现以下对话框：
选择两个探测器单击确认。
快门打开收集到一个衍射峰。采集过程中的曝光时间和次数都会显示出来。采集快门结束快门关闭，衍射峰会在同一图表中和两个探测器的衍射峰一起显示出来：
5.1.3 单曝光应力计算
用一个β角（两个Psi倾斜）来测量应力是可以的，这种方法一般限定在材料有以下特征的情况下：
（1）d和sin2Ψ的关系曲线是线性的，并且没有因为剪切应力出现Psi分裂；
（2）材料的晶粒良好；
（3）材料是各向同性，没有晶格出现。
采用该方法，测量出现的误差必须仔细估计。
总之，这种方法是没有其他测试方法的时候才使用的。
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