放射性活度测量中的校正因子及其重要性

放射性样品的活度指每秒钟的衰变数A，仪器测得的是每秒钟的计数即净计数率n（=nc-nb，nc为总计数率，nb为本底计数率），从n确定A称为放射性活度的绝对测量。如果不考虑样品对于发射的辐射的自吸收，辐射是以等概率向空间各个方向发射的，其中只有一部分fG进入探测器，fG称为几何因子。设样品对于探测器张的立体角为Ω，因空间立体角之和为4π，则

如果样品不是无限薄，则从样品下层发射的辐射在穿出样品之前将有一部分被样品自身所吸收。不被样品自吸收的份额为fS，称为自吸收校正因子。

从样品中发射出来的辐射在进入探测器灵敏区之前，要穿越探测器与样品间的空气层及探测器的器壁，空气和器壁对于辐射的吸收总称为窗吸收。不被窗吸收的概率fW称为窗吸收校正因子。

探测器对于进入其灵敏区的该种辐射转化为可记录信号的概率η称为本征探测效率。

如果计数率太高，探测器有限的分辨时间将造成漏记，不被漏记的概率为fτ

fτ＝1－nτ

fτ称为死时间校正因子。(www.xing528.com)

有一些本来不在探测器相对于样品张的立体角之内的辐射，可能被样品衬底和立体角外的空气及其他物体散射而进入立体角，使得计数率增加fB倍，fB称为反散射校正因子。

此外，还需要对于每次衰变发射被测量的辐射的数目fD进行校正，fD称为衰变分支比校正因子。最后得到样品的衰变率A（放射性活度）与净计数率n的关系为

如果待测放射性核素的半衰期很短，还需要对测量时间内的放射性衰变进行校正，校正系数不难从衰变规律推出。实际工作中常常采用4π测量法，即将样品做成无限薄并将样品置于探测器内（如4π正比计数管、4πG-M计数管、液体闪烁计数器），或做成气体样品进行流气式测量，此时fs，fW，fB，fG均等于1。

如果有一个同种放射性核素标准样品，其活度AS已知，将待测样品与标准样品在完全相同的条件下进行测量，净计数率分别为nx和ns，则

实际工作中往往只要求出各样品的活度比就够了。在这种情况下，只要保持各样品的测量条件相同，则

可见相对测量比绝对测量简单得多。