轨道交通RAMS工程基础：可靠性增长的基本过程

从研制、试生产、批生产、使用阶段来分析可靠性增长的全过程，如图5-5所示。

图5-5 可靠性增长过程

1.研制阶段

样机研制出来时，由于存在设计缺陷等系统性薄弱环节，初始的平均故障间隔时间（MTBF）较低（A点）。在可靠性增长试验以及其他试验中，不断地暴露出系统性故障，通过分析，有针对性地采取纠正措施，进行设计更改，一直到研制阶段结束，可靠性在不断增长，达到B点。研制阶段实现可靠性增长的主要优点是费用低，更改设计方便及时。

2.试生产阶段(www.xing528.com)

由于设计阶段样机数量较少，设计缺陷很难充分暴露出来，特别是批次性的零部件缺陷不能充分暴露出来；设计阶段零部件由设计人员掌握，设计更改、零部件更换随意性较大，致使设计方面的不足和零部件方面的缺陷无法得到识别；样机的应力筛选试验很充分，而生产阶段的产品不可能有如此长的环境应力筛选周期。所以，在试生产开始的时候，使产品的可靠性低于样品研制结束时的可靠性，从B点下降到C点。在试生产过程中，通过继续采用纠正、改进措施，可靠性将不断增长，达到D点。

3.批生产和使用阶段

批生产开始的时候，由于工艺缺陷、装配缺陷及质量控制问题，可能使批生产产品的可靠性水平从D点下降到E点。随着关键问题的不断解决，各种工艺、装配缺陷得到纠正，可靠性将继续增长，达到规定的MTBF。

可靠性增长是反复设计、反复纠正的结果。随着设计的成熟，研究确定实际存在（通过试验）的或潜在（通过分析）的故障源，进一步的设计工作应当放在改正这些问题上。从理论上讲，产品寿命期的各个阶段都可以实现可靠性增长，但是对于各阶段所进行的可靠性增长，需要从经济性和及时性方面权衡考虑。