散斑图片的处理,通常采用两种方法,即逐点分析法和全场分析法。
图9.4.2表示逐点分析法(Point by Point Analytical Method)光路。用细激光束照明散斑图底片,在观察屏上将看到由被照明小区域“散斑对”产生的杨氏干涉条纹。相邻亮条纹(或暗条纹)的间隔Δt均满足下列关系:
图9.4.2 逐点分析法的光路
式中,l为“双孔”间距(即位移量),且条纹取向与“双孔”连线(即位移方向)垂直;z0代表散斑底片与观察屏之间的距离。注意到上述位移是经过透镜(在记录时)放大了的值,故实际位移量应为
式中,u、v各为物距和像距。当位移的大小和取向不同时,条纹的疏密和取向也不同。
图9.4.3表示全场分析法(Full-field Analytical Method)的光路之一。将散斑图底片放在光信息处理系统中进行分析。为了分析方便,设“散斑对”相对于光轴对称排列,且其连线与x轴成θ角,则此散斑对可用一对δ函数表示成
图9.4.3 全场分析法的光路之一
在变换平面上将得到它们的频谱。应用欧拉公式并令,经整理最后得
所以,变换平面上的光强分布可表示成
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式中,I1=A2,而
式中,l是位移矢量,r是变换平面上的位置矢量。显然有
这些条纹分布在散斑图上,构成位移矢量l在r方向投影的等值线族。若位移场是均匀的(刚性位移),则由式(9.4.6)有
由此得垂直于位移矢量的一族直线条纹,条纹间距等于,与式(9.4.1)类似。
若位移场是非均匀的,一般在变换平面上看不到干涉条纹。这时需要在变换平面上安置一个滤波小孔。如图9.4.4所示,设滤波小孔位于水平位置(xf0,0),则在像面上凡是位移分量为
图9.4.4 全场分析法的光路之二
的点均出现亮条纹,由此得到水平位移相等的点的轨迹。当滤波小孔位于竖直位置(0,yf0)时,则像面上凡是位移分量为
的点均出现亮条纹,由此得到竖直位移相等的点的轨迹。滤波小孔位于任意位置时,可类似分析。
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