半导体光敏电阻式光照度传感器应用指南

1.半导体光敏电阻式光照度传感器的测量原理

半导体光敏电阻式光照度传感器的敏感元件为半导体，此类光照度传感器一例如图10-39所示。硫化镉（CdS）半导体材料的电阻率随光照度增强而下降，将其连接到图10-39b所示的测量电路中，CdS在灯光照射下其电阻值改变时，就会输出与光照强度成正比的电压U_o，控制电路或电控单元根据此电压信号进行与光照度相关的自动控制。

图10-39 半导体光敏电阻式光照度传感器

a）传感器结构 b）测量电路

1—玻璃罩 2—金属盖 3—金属底板 4—电极引线 5—陶瓷基片 6—硫化镉（CdS） 7—电极

2.半导体光敏电阻式光照度传感器的检测方法(www.xing528.com)

半导体光敏电阻式传感器的可能故障有：内部电路有接触不良或断路、光敏元件失效等。故障检测主要是通过测量传感器的电阻，看其是否与规定值相符。具体检测方法如下。

（1）检测光线暗淡时的传感器电阻

断开传感器的插接器，用布遮住传感器后，再用电阻表测量传感器两端子之间的电阻，应较大。如果电阻值较小或无穷大，需更换传感器。

（2）检测光线较强时的传感器电阻

掀开光照度传感器上的布，再测量传感器两端子之间的电阻，其电阻值应减小。再用灯光照射光照度传感器，当灯光靠近传感器时，其电阻值应随之减小；当灯光移开传感器时，其电阻值应随之增大。如果测量结果异常，更换光照度传感器。