晶体管检测：利用万用表测量晶体管hFE值及判断引脚位置

现在许多万用表均设有晶体管测试挡（孔），可直接粗略测出管子h_FE及判断出B、E、C极。如图2-53所示，在测出B极后，将晶体管随意插到插孔中去，测一下h_FE值，然后将管子倒过来再测一遍，测得h_FE值比较大的一次，各引脚插入的位置是正确的。

也可通过对晶体管I_CEO（基极开路，集电极和发射极正向额定电流）的检测，从而判断出晶体管性能的好坏。操作方法如图2-54和图2-55所示。

图2-53 用晶体管测试孔检测晶体管

图2-54 判断晶体管（NPN管）性能好坏操作方法示意图

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图2-55 判断晶体管（PNP管）性能好坏操作方法示意图

一般锗中、小功率管实测阻值应在10～20kΩ以上，硅管应在100kΩ以上。实际上绝大多数管子均看不出指针摆动（指针式万用表），即显示值为无穷大。若实测阻值太小，则表明I_CEO很大，这种管子不能使用；若阻值近于零，则说明管子C、E结已击穿。

用同样方法可检查I_CBO（发射极开路，集电极和基极正向额定电流）。只需将表笔改接B、C极，并注意测其反向电阻即可。

在测I_CEO基础上，再接一个10kΩ（硅管）或20kΩ（锗管）电阻，如图中虚线所示。便可检查管子放大系数h_FE。接上电阻后所测得的阻值变小越多，说明管子h_FE越大；若阻值不变或改变很小，则说明管子损坏或放大能力很差。

【点拨】

实测中也可用手（需较湿）捏牢B、C极来代替电阻。这是利用人体电阻的一种方法。