利用小焦点X射线荧光光谱分析法确定射击距离

近年来，现代分析测试技术迅速发展，促进了其在刑事技术领域的研究与应用，枪弹检验中判断射击距离方面取得了许多新进展。这里重点介绍一下，小焦点X射线荧光光谱分析法（m－XRF法）在判断射击距离中的应用。

m－XRF法在获得纺织品射入口区域射击残留物（GSR）分布形态方面是一项先进技术，通过对射入口周围区域的无损扫描，不仅可获得质量高、效果好的GSR分布形态图像，而且可同时获得相应GSR的量化数据、荧光强度数据。判断射击距离时，在利用GSR分布形态图像与标准图谱进行比对的基础上，GSR荧光强度数据可作为判断的参考。

X射线荧光光谱分析法（XRF）是利用原级X射线光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。根据最小分析面积的不同，可分为普通X射线荧光光谱分析法（XRF）、小焦点X射线荧光光谱分析法（m－XRF法）及微焦点X射线荧光光谱分析法（u－XRF法）。(www.xing528.com)

m－XRF法最小分析面积为0.2～2mm2的方形区域，可在不破坏检材的条件下，对最大15 cm×15 cm的区域进行快速的成分分析，同时获得该扫描区域多个指定元素的分布形态及荧光强度数据。该方法可实现全自动扫描，分析过程不破坏样本、且不受人为因素干扰，操作简单，检测灵敏度高。鉴于上述优点，在客观、准确反映近距离射击的纺织品射入口周围射击残留物的成分分布形态方面，m－XRF法具有明显的优势，会为射击距离的判断提供更为科学、可靠的依据。