【摘要】：⑤余辉测量精度:优于0.1ms。光学系统严格经Vλ()校正,使得光电输出真正正比于亮度信号,配备像质优于百万像素的可调焦亮度计专用光学镜头,全16位A/D,USB接口。
1.主要技术指标
①激发电子能量:0～15 keV。
②束电流密度:0～10mA/cm2。
③真空度:优于1×10-4 Pa。
④亮度探测器:专用成像亮度计,加Vλ()修正。
⑤余辉测量精度:优于0.1ms。
2.真空装置的性能指标
真空装置提供荧光屏综合参数测试系统所需的真空度:其极限真空度为1×10-5 Pa,时间6 h;测试荧光屏真空度优于5×10-4 Pa,时间40min。
3.亮度测试系统的性能指标(www.xing528.com)
亮度测试系统测试荧光屏的发光亮度和余辉。
测量范围:0.01 cd/m2～5 000 cd/m2,被测面积为φ15mm2。
亮度绝对值偏差:＜5%;严格的Vλ()校正,达到CIE class A级水平。
响应速度:优于1 kHz,带同步采样输出,采样速度优于5 kHz,带RS232接口。
测试荧光屏的发光效率,单位为lm/W。
4.荧光屏发光亮度均匀性测试系统的性能指标
荧光屏发光亮度均匀性测试系统测试荧光屏发光亮度均匀性。
光学系统严格经Vλ()校正,使得光电输出真正正比于亮度信号,配备像质优于百万像素的可调焦亮度计专用光学镜头,全16位A/D,USB接口。进口CCD像素为1 024×1 024,一级TE制冷,相对亮度偏差优于5%。
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