荧光屏发光效率测试的结构设计与保障方案

荧光屏发光效率测量的是流明效率,这是一种相对效率。真空系统采用不锈钢制作,由于荧光屏被放置在真空系统中的转盘上,因此到观察窗有5 cm的距离,而发光效率测试需要将光功率探测器直接放置在荧光屏发光面上,客观上做不到,从而造成发光效率的测试误差,所以我们设计了误差系数的检测装置,如图2.40所示,检测方法是把标准超二代像增强器放置在完全按照真空系统尺寸设计的模拟结构中点亮,模拟出像增强器荧光屏到观察窗的距离以及测试环境,测出发光效率,然后直接将光功率探测器紧贴标准超二代像增强器,按相同电压点亮它,测出发光效率,将两个效率相除得出误差系数,校正荧光屏发光效率。

图2.40　发光效率的误差系数检测装置设计与实物对照图

1—光功率探测器;2—观察窗;3—超二代像增强器。

在设计原理的指导下,我们研制出荧光屏发光效率的测试部件和流程,如图2.41所示。

图2.41　荧光屏发光效率的测试图(www.xing528.com)

1—光功率探测器;2—光功率计;3—电流计;4—计算机。

荧光屏发光效率测试的运行保障:

①热电子面发射源必须具备电子汇聚功能,确保发射出的电子全部打到荧光屏上,这样才能有效测量荧光屏发光效率,我们研制的电子发射源具备这样的特性,具体说明见上章;

②电流计为德国进口,品牌为KEITHLEY;

③光功率计委托远方光电信息有限公司研制,并经过国家标准计量局标定;

④测试控制软件为自主研制。