【摘要】：为了便于放置不同型号的荧光屏,同时保证良好的接电性能,设计了不锈钢材料的样品架,可以直接放置在真空系统转盘上,其结构如图2.37所示。图2.38百万级CCD滑动架1—滑竿;2—百万级CCD;3—转轴;4—真空腔室;5—观察窗。根据原理样图,我们设计并加工出的荧光屏发光亮度及均匀性测试部件结构和流程,如图2.39所示。图2.39荧光屏发光亮度及均匀性测试结构图1—百万级CCD;2—热电子面发射源;3—成像亮度计;4—计算机。
为了便于放置不同型号的荧光屏,同时保证良好的接电性能,设计了不锈钢材料的样品架,可以直接放置在真空系统转盘上,其结构如图2.37所示。
图2.37 样品架二维及三维效果图
(a)二维;(b)三维
为了调节百万级CCD的焦距和左右位置,设计了百万级CCD的滑动架,使得百万级CCD能够围绕轴转动180°,以便不用时让出空间;百万级CCD可以在滑竿上左右滑动,以便在使用时对准观察窗;滑动架可以在转轴上上下滑动,可以粗调焦距,细调是通过百万级CCD的镜头来调节,如图2.38所示。
图2.38 百万级CCD滑动架
1—滑竿;2—百万级CCD;3—转轴;4—真空腔室;5—观察窗。
根据原理样图,我们设计并加工出的荧光屏发光亮度及均匀性测试部件结构和流程,如图2.39所示。(www.xing528.com)
荧光屏发光亮度及均匀性测试运行保障:
①真空系统加工委托中国科学院沈阳科学仪器研制中心有限公司加工,具体设备见下节;
②热电子面发射源的研究、设计和试验结果见上章,自主研制并申报了国家专利;
③成像亮度计委托远方光电信息有限公司研制,并经过国家标准计量局标定;
④测试控制软件为自主研制。
图2.39 荧光屏发光亮度及均匀性测试结构图
1—百万级CCD;2—热电子面发射源;3—成像亮度计;4—计算机。
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