测量电流互感器的介质损失角和电容量

测量35kV及以上电流互感器一次绕组的介质损失角正切tanδ，能发现绝缘受潮、劣化及套管绝缘损坏等缺陷。

1.串级式电流互感器介质损失角正切tanδ和电容量C的测量

35～110kV级的电流互感器，多为串级式结构。这类电流互感器没有末屏端子引出，现场测量C和tanδ可按QS1电桥正接线测量一次绕组对二次绕组的tanδ，也可按QS1电桥反接线测量一次绕组对二次绕组及外壳的tanδ。

用正接线测量时，一次绕组加高压，二次绕组短路（引线拆除）后，接电桥C_X线。反接线时，C_X线接高压及一次绕组、二次绕组短路接地。

不同试验接线时的tanδ的测量结果见表5-7。

表5-7 不同试验接线时的tanδ的测量结果

由表5-7可以看出，反接线测得的tanδ远小于正接线测量值。而反接线测得的C_X值则大于正接线值。造成这种现象的主要原因是：正接线测量的是一次绕组对二次绕组或一次绕组对二次绕组及外壳的tanδ，实际是试品的一次绕组对二次绕组或一次绕组对二次绕组及外壳之间绝缘的tanδ，而一次绕组对周围接地部分的电容则未被测入。而反接线时这部分电容则被测入。由表5-7还可以看出，一次绕组对二次绕组的电容量为51pF，而一次绕组对二次绕组及外壳的电容量为57.3pF，即一次绕组对外壳的电容量仅为6.3pF。这个电容主要是部分油及瓷套的电容。由于这部分电容很小，使得正接线时一次绕组对二次绕组的tanδ与一次绕组对二次绕组及外壳的tanδ近似相等（分别为3.4和3.5）。因此，按QS1电桥正接线测量一次绕组对二次绕组的tanδ可以发现互感器进水、受潮等缺陷。反接线测量时，一次绕组对周围接地部分的电容为82－57.3＝24.7pF，占反接线测量时总电容的24.7／82×100％＝30％。而这部分介质主要是空气。空气的介质损失tanδ很小，一般为0.1％～0.2％，造成整体tanδ偏小，不能灵敏地反映电流互感器的绝缘状况。因此，在现场测量中，应以正接线测量的结果作为分析、判断设备绝缘状况的主要依据。

由于35～110kV电流互感器电容量很小，现场测量tanδ时电场干扰十分强烈。根据电场干扰下tanδ测量的原理可知，电场干扰下正接线测量较反接线测量准确，抗干扰能力强。对于部分对测量tanδ电场干扰不强的电流互感器，还可以不拆一次绕组引线用正接线进行测量，减少了试验工作量。(www.xing528.com)

现场正接线测量（即一次绕组对二次绕组）时，测得的tanδ反应互感器套管内、外壁及支架绝缘状况不灵敏。因此，当采用正接线而不用反接线测量tanδ时，应当认真进行一次绕组对地绝缘电阻试验，当绝缘电阻偏低时，应再用反接线测量一次tanδ。若反接线测得tanδ大于正接线测得的值，则要考虑互感器内、外壁及支架的绝缘状况是否有问题。

2.电容型电流互感器介质损失角正切tanδ和电容量C的测量

这类互感器有供测量用的tanδ末屏端子引出，现场测量时可方便地使用QS1电桥正接线进行电容量C_X和tanδ的测量。测量时一次绕组加压，二次绕组短路接地，电桥C_X线接末屏端子。这时测得的是一次绕组对末屏的tanδ和C_X值。

电流互感器进水受潮后，水分一般沉积在底部，最先使底部和末屏受潮。因此《规程》要求，当末屏对地绝缘电阻小于1000MΩ时，应在测量一次绕组对末屏主绝缘C_X和tanδ的同时，用QS1电桥反接线，末屏接高压C_X线，加压2kV，互感器二次绕组短路接地，一次绕组接电桥的屏蔽“E”端，末屏对地的tanδ（％）应不大于2。

3.电流互感器tanδ和C_X的试验标准

《规程》规定了各类电流互感器tanδ（％）和C_X的试验标准，见表5-8。

表5-8 电流互感器tanδ（％）和C_X的试验标准