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LTE和WCDMA接收机比较:EVM相关因素

时间:2023-07-02 理论教育 版权反馈
【摘要】:在第11.3.4节中,LTE下行链路预算设定为8%左右。与WCDMA相比,LTE的要求显得更为严格。这是LTE与WCDMA的一个非常重要的差异。图11-49中的EVS频谱平坦度证明了在两种标准下,由IR形成的EVM特性与AWGN类似。可以选择截止频率为4.5kHz、群延迟失真超过CP长度的1阶无源高通滤波器来说明对LTE的影响。因此,在LTE中,设计DC频偏补偿机制时一定要谨慎。在WCDMA中,该损害因素的EVM取决于综合本振相位误差,而LTE与WCDMA不同。

LTE和WCDMA接收机比较:EVM相关因素

在第11.3.4节中,LTE下行链路预算设定为8%左右。在WCDMA中,即使是在HSDPA操作中,LTE下行链路预算的可接受范围也只为10%~12%。与WCDMA相比,LTE的要求显得更为严格。但是,LTE的创新之处在于EVM测量采用了迫零均衡器(参见11.3.4节)。因此,必须搞清楚那些类似AWGN的限制条件和那些可以进行均衡操作的限制条件之间的差异,使其对UE接收机来说是透明的。这是LTE与WCDMA的一个非常重要的差异。当SF足够大时,每个EVM限制条件的作用与AWGN类似[36]。本节通过选取若干个典型的损害条件(如I/Q增益、相位失衡、ACF失真和DCR本振相位噪声),来说明这些差异。

11.8.4.1 由I/Q幅度和相位失配引起的有限镜像抑制的影响

在实际模拟/RF设计中,设计一个能够确保I分支和Q分支之间增益和相位响应相同的理想DCR几乎是不可能的。因此,DCR面临着两大自然损害:幅度和相位失配,分别用ΔA和ΔΦ[8]来表示,它们会导致有限镜像抑制(Image Re-jection,IR)的发生。有限IR会造成每个子载波与位于其频率镜像处的子载波发生重叠,如图11-48所示[9]。子载波与其镜像的功率比是由IR进行定义的。假定每个子载波携带的符号不相关,则IR对LTE的影响与单载波系统相同,且可以将其看作是一个AWGN源[37]

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图11-48 有限镜像抑制

图11-49给出了使用AgilentTM89600矢量信号分析仪(Vector Signal Analy-zer,VSA)完成的EVM测量,它给出了误差矢量频谱(Error Vector Spectrum,EVS)。EVS是一个用于描述每个子载波误差矢量大小的工具。图11-49b给出了LTE复合EVS,即它是每个物理信道EVS的叠加结果,图中黑线部分表示EVS平均值。图11-49中的EVS频谱平坦度证明了在两种标准下,由IR形成的EVM特性与AWGN类似。

11.8.4.2 带内模拟滤波器幅度和群延迟失真的影响

1.零中频(IF)低通滤波器影响因素

图11-50给出了I/Q信道原型滤波器[10]对测量结果[11]的影响,该原型滤波器与参考文献[31]中的5MHz 16QAM LTE和WCDMA下行链路载波类似。在图11-50c中,每个星座点的扩展相等,它证明了WCDMA中的EVMLPF特性与AWGN类似,在这个实例中,会影响8%的EVM性能。图11-50b说明在不使用均衡器的情况下,最外面的子载波受到的影响最大,位于中间的子载波健壮性最好。使用迫零(ZF)均衡器,会使得EVS曲线变得平坦,且能够将复合EVM值降低1.2%左右。

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图11-49 WCDMA和OFDM下行链路载波上ΔA和ΔΦ的影响(当ΔA=1.75dB时)

可以得出这样的结论,与WCDMA调制相比,LTE放宽了对LPF损害因素预算的要求。(www.xing528.com)

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图11-50 I/QACF对5MHzLTE(NRB=25)和WCDMA下行链路载波中复合EVM测量值的影响

2.零中频(IF)高通滤波器影响因素

11.8.1.2节中描述的IMD2结果可以生成一个较大的DC分量,为了满足ADC目标BO要求,通过将I/Q功率放大几个分贝,就可以达到饱和状态。在WCDMA中,可以使用高通滤波器(HF)来滤除DC分量,参考文献[36]证明它对EVM的影响与AWGN类似。HPF设计是一种在EVM、电容器尺寸、占模片区和直流稳定时间[12]之间的折中。可以选择截止频率为4.5kHz、群延迟失真超过CP长度的1阶无源高通滤波器来说明对LTE的影响。与LPF或BPF测试条件不同,靠近载波中心位置的子载波健壮性最差,如图11-51所示。举例来说,当带宽为1.4MHz时,占据载波中心位置的主同步信号(Primary Synchronization Signal,PSS)的EVM为7.5%,而由于分配给QPSK用户的带宽增加,其EVM也随之增加,如图11-51c和图11-51d所示。受失真影响的RS非常少,以至于迫零(ZF)均衡器都无法降低HPF的影响。因此,在LTE中,设计DC频偏补偿机制时一定要谨慎。

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图11-51 当ZF均衡器工作时,4.5kHzHPF原型对测量值12的影响(星号表示PSSEVM平均值,菱形表示复合EVM平均值,方形表示QPSK用户EVM平均值)

11.8.4.3 锁相环相位噪声的影响

如果下行链路OFDM信号只是一组未调制的间隔很近的CW音频信号,则DCR混频器的相关I/Q输出等于每个CW音频信号与本振相位噪声(Phase Noise,PN)之积,如图11-52a所示。显而易见,任何大于子载波间隔的相位噪声都会导致SNR劣化。在大多数与PN有关的研究成果[38,39]中,位于载波高频偏和低频偏处的PN限制因素之间存在着差别。靠近中心的PN将生成一个所有子载波都相同的随机相位旋转,又称为公共相位误差(Common Phase Error,CPE)。可以对CPE进行估计,因而也可以对其进行校正。高频偏相位噪声分量会生成载波间干扰(ICI)。该限制因素可看作是一个AWGN模型,且无法进行校正。由劣化的相位噪声分布导致的CPE和ICI如图11-52c所示,其中LTE16QAM用户数据既受到星座旋转的影响,又受到状态扩展的影响。

总之,当频偏≥15kHz时,LTE中的OFDM子载波间隔引入了一条与本振相位噪声有关的新要求。在WCDMA中,该损害因素的EVM取决于综合本振相位误差,而LTE与WCDMA不同。

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图11-52 相位噪声的影响

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