测试系统简介 - 全面了解测试系统

对于整个电子系统而言，在完成最初的仿真后，为了保证设计的准确性，我们需要对各个设计阶段进行验证。无论从基带和射频的角度，还是从模拟到数字的角度来看，现有的测试系统需要相应的接口以完成不同模块、不同阶段的测试。除此之外，由于现有的被测系统具有的多样性特点，测试系统提供的接口需要尽可能的灵活以满足不同的被测设备。矢量源和信号分析仪可以提供从基带到射频、从模拟到数字、从单端到差分以及从输入到输出的多种接口以满足设计和测试的多方面需求。

矢量源可以通过实时或者ARB的方式产生所需的测试数据，同时双通道设计理念和内置衰落模拟器功能可以方便地进行不同的配置以满足不同的测试需求。另外所有矢量源提供的基带、射频接口可以对电子系统中的不同链路模块进行测试；而基带部分提供的基带模拟和数字IQ输入、输出接口又可以满足不同被测器件的需求。信号分析仪可以直接分析从基带到射频的输入信号，通过解调选件、矢量分析选件或内置的移动通信选件完成对不同设计阶段的数据分析。FSx系列提供的模拟和数字IQ输入、输出接口，不但可以对不同的模块进行分别测试，也可以完成相应的数据采集功能，以方便在后续进行数据处理。(www.xing528.com)

除此之外，对于基带仿真及测试所需的数字接口，由于标准和使用器件的差异性，需要满足不同速率、不同接口形式、不同电平形式的数字接口。可以将不同的逻辑电平形式、不同的速率、不同的接口形式转换为统一的接口，并且支持矢量源和信号分析仪的数字IQ输入和输出，可以方便地和被测设备进行连接。