在系统中，频综的一个很重要的应用是作为本振在射频电路部分驱动混频器。在变频过程中，为了获得最小的变频损耗，以及非线性产物的最优抑制，本振的输出电平需要恰当的设计。本振的相位噪声会搬移到变换之后的频段，保证良好的相位噪声特性也是对本振的重要要求之一。
频率综合器的测试参数主要包括：相位噪声、非谐波杂散、频率准确度、输出功率、频率稳定度以及频率切换时间等。信号源分析仪提供频谱法、锁相环法和互相关法三种相位噪声测量的方法，可以以非常高的灵敏度进行相位噪声的测量。还可以进行瞬态测量、VCO特性测量。内置频谱分析仪，可进行频谱测量。实现对频综、VCO等器件和模块的全方位测试（图8-38）。
信号源分析仪是相位噪声测试仪、高端频谱和信号分析仪、瞬态记录仪三合一的高端仪表，提供为研发和生产应用领域中振荡器和频率合成器测量和生产的独特的、使用方便的单机解决方案，配置低噪声直流源输出和调谐电压直流输出，能够方便精确地测量除相位噪声外的调谐斜率、瞬态响应、功率、谐波、杂散发射等参数指标，频率范围1 MHz～50 GHz，使用外部混频器频率可达110 GHz，满足从射频到毫米波的广泛测试需求。
图8-38 利用互相关法来提高相位噪声测量灵敏度
图8-39 鉴相法相位噪声测量(www.xing528.com)
鉴相法相位噪声测量（图8-39）：可显示信号电平、载频和剩余FM，示波器同时还提供频谱分析功能。示波器内置了数字下变频电路，对于采集到的RF信号，不但可以在屏幕中显示信号的时域波形，还可以将信号下变频后，进行精确地频谱分析。由于示波器采用了单独的硬件执行FFT运算，并引入了重叠FFT算法，其频谱分析速度和频率分辨率都达到了普通频谱分析仪的水平。选通的FFT功能可以观测某一段时刻的频谱情况。将示波器探头分别接在VCO的输入和输出端，就可以从时域和频域的角度对VCO的特性进行分析（图8-40）。
图8-41为对锁相环锁定过程的测试，同时显示出了调谐电压的波形和输出信号的频谱。对各种频率源完整参数的测试能力，可完成测试的器件种类包含：晶体振荡器、VCO、锁相环频率合成器、DDS频率合成器、捷变频频率合成器、信号源仪表等。
图8-40 利用示波器进行VCO测试
图8-41 VCO电路调试结果
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