【摘要】：测量这些元件和系统的性能不难用具有类似同轴接口的标准测试设备完成。这就向设计师提出要求利用同轴接口的测试设备来测量新型射频和微波元件性能的问题。直接测量法需要插入到测试夹具和被测件中的专门校准标准。去嵌入法则利用测试夹具的模型，并通过数学计算从总的测量结果中去除夹具特性。下面就介绍网络分析仪对这类嵌入网络S参数的测量方法。
射频和微波元件的设计一般都采用传统的封装形式再配上同轴接口。复杂系统很容易由将一系列独立同轴器件连接在一起加以制造。测量这些元件和系统的性能不难用具有类似同轴接口的标准测试设备完成。然而，现代系统要求元件集成度高、功耗小和制造成本低，射频元件的正面趋向采用印制电路板和表面安装技术（如MMIC等）。这就向设计师提出要求利用同轴接口的测试设备来测量新型射频和微波元件性能的问题。种类繁多的印制电路传输线使得难以建立起便于与所有不同类型和尺寸的微带线及共面传输线相连的测试设备，矢量网络分析仪通常用来表征射频和微波元件的测试设备是在测试端口采用50Ω同轴接口，因此，测试设备需要借助测试夹具来与它所选择的被测件相连。为精确表征待测件，要求从测得的结果中去除夹具特性的影响。近年来，为了从测量中去除测试夹具的影响而拟定出多种不同的方法，可以将它们分为两大类，即直接测量法和去嵌入法。直接测量法需要插入到测试夹具和被测件中的专门校准标准。器件测量的精度取决于这些物理标准的质量。去嵌入法则利用测试夹具的模型，并通过数学计算从总的测量结果中去除夹具特性。这种夹具“去嵌入”程序对非同轴被测件可以给出极精确的测量结果，而无须复杂的夹具和非同轴校准标准。下面就介绍网络分析仪对这类嵌入网络S参数的测量方法。(www.xing528.com)
免责声明：以上内容源自网络，版权归原作者所有，如有侵犯您的原创版权请告知，我们将尽快删除相关内容。
