【摘要】：在频率低于微波的频段，电路的几何尺寸通常远小于波长，属于集中参数电路，便于测量的电压、电流及频率是研究低频和高频电路的基本测试量。由于微波波段本身的特点使得它们无论在测量任务和测量方法，还是所用的测量仪器都有一些与低频和高频测量不同的地方。因此，在测量中对微波仪器及辅助元器件特性的了解和正确使用对测量的准确度有很大影响。
在频率低于微波的频段，电路的几何尺寸通常远小于波长，属于集中参数电路，便于测量的电压、电流及频率是研究低频和高频电路的基本测试量。
但是天馈系统和微波元器件的几何尺寸通常和工作波长相比拟，从电路观点看它们均属于分布参数电路，其电压、电流概念已失去原来的物理意义。馈线和微波元器件必须用场的概念逐点、连续地描述它们所在空间的场分布规律，所以便于计量的场分布（驻波）、功率和频率就成了最基本的三个测试量，并通过这三个基本量的测试可以导出其他有用参量。当然，测量空间每一点场强的绝对值仍然是困难的，但测量其相对值较方便而且也是实际所需要的，因此表征场分布规律的反射系数或驻波比，以及方向图和增益就成了微波和天线测量中非常重要的参数。(www.xing528.com)
由于微波波段本身的特点使得它们无论在测量任务和测量方法，还是所用的测量仪器都有一些与低频和高频测量不同的地方。例如：信号的产生是使用专用的真空管器件，如磁控管及微波固体器件等；一般测试所用的辅助元器件多是分布参数的元器件，如隔离器、衰减器、移相器、定向耦合器、阻抗变换器及谐振腔等；而电磁波的检测一般是用晶体检波器。因此，在测量中对微波仪器及辅助元器件特性的了解和正确使用对测量的准确度有很大影响。
免责声明：以上内容源自网络，版权归原作者所有，如有侵犯您的原创版权请告知，我们将尽快删除相关内容。
