陶瓷制件荧光渗透检测技术

氮化硅陶瓷制件，例如轴承球的破裂源常为氮化硅中的孔洞和夹杂物，这可用高灵敏度的荧光渗透剂来检出，夹杂物能用此法检出是由于有孔洞围绕。由于渗透剂的灵敏度高，检出个别直径为2μm的孔洞是可能的。为使检测获得好的效果，要求：

1）有极优的表面粗糙度，优于0.62μm。

2）在磨削和抛光作业中，氮化硅的塑性变形极小。

3）在达到理论致密的热压氮化硅中不存在细而分散的孔隙。

满足这些要求，可使在用紫外线检查时本底辐射很小。应该注意到，所用的荧光渗透剂有能力检出直径为5μm的分离微孔隙。

用荧光渗透法检测氮化硅轴承件时，有一点需加注意，因为有机物质存在于球表面，看起来会和孔洞一样，有时需用光学显微镜，甚至扫查电子显微镜来鉴定荧光渗透剂的指示。

对于裂纹的检测，或与不均匀的磨削压力，或与不适当的进给率有关的擦伤的检测，荧光渗透法也已证明是有效的。(www.xing528.com)

应该注意，荧光渗透检测不能检出与导致轴承提前破坏的所有类型的缺陷，如表面下的孔洞或夹杂物就检查不出；几何形状的不完整，如球上有平面、滚珠槽沟有掉片都是检不出来的，因为这些类型的缺陷并不存在孔隙。

用高灵敏度后乳化荧光检测系统检查精加工热压氮化硅球轴承的渗透检测如表12.3-10所示，可检出的最小裂纹长120μm。

表12.3-10 热压氮化硅球轴承的渗透检测

在检测反应结合材料时，由孔隙引起的高干扰本底会引起问题，渗透法不是良好的方法。