【摘要】：图11.3-12 使用单晶直探头脉冲反射法进行复合板探伤的原理图实际探伤时，可能出现的几种典型情况如下：复板和基板的材料声特征阻抗相同或相近当复板和基板的材料声特征阻抗相同或相近时，如复合良好，则只有底波B而无缺陷波I，钢板底波B很强且形成多次反射；如复合不良，存在未结合缺陷且未结合缺陷面积小于声束断面时，则底波B和I波同时存在；当未结合缺陷面积大于声束断面时，则B波消失，只有I波的多次反射。
使用单晶直探头脉冲反射法进行复合板探伤的原理如图11.3-12所示。
图11.3-12 使用单晶直探头脉冲反射法进行复合板探伤的原理图
实际探伤时，可能出现的几种典型情况如下：(www.xing528.com)
（1）复板和基板的材料声特征阻抗相同或相近当复板和基板的材料声特征阻抗相同或相近时，如复合良好，则只有底波B而无缺陷波I，钢板底波B很强且形成多次反射；如复合不良，存在未结合缺陷且未结合缺陷面积小于声束断面时，则底波B和I波同时存在；当未结合缺陷面积大于声束断面时，则B波消失，只有I波的多次反射。
（2）基板和复板的材料声特征阻抗差异较大当基板和复板材料声特征阻抗差异较大时，即使复合得很好，也会出现复合界面的回波（与I波同位置），也有一定高度，导致B波较低；如复合不良，则I波比正常时要高，导致B波进一步降低或消失；当未结合面积大于声束断面时，I波形成多次反射，B波完全消失。
（3）复板厚度较薄当复板厚度较薄时（小于盲区范围），如从复板一侧探测时，在复合良好时，只有B波的多次反射；当复合不良且未结合缺陷面积大于声束断面时，B波消失，且始脉冲（或界面波）明显变宽变形，如图11.3-13a所示。当从基板一侧探测时，如复合不良且未结合缺陷面积大于声束断面时，则I波形成多次反射，B波消失。此时，不要误将I波认为是B波，如图11.3-13b所示。
免责声明：以上内容源自网络，版权归原作者所有，如有侵犯您的原创版权请告知，我们将尽快删除相关内容。
