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展望ESPI技术在位移及应变测量、振动分析等领域的广泛应用前景

时间:2023-07-02 理论教育 版权反馈
【摘要】:20世纪90年代前后,计算机技术、电子技术的飞速发展,电子成像取代光学照相,产生了电子散斑干涉和错位散斑技术,大大提高了效率,也降低了隔振要求,但当时图像质量还不是十分令人满意。ESPI技术在电子技术,信号处理技术发展的推动下,在提高图像质量、仪器小型化、数据处理智能化等方面持续进步,并将逐渐降低系统成本,在国防及民用行业的位移及应变测量、振动分析等领域都将有广泛的应用前景。

展望ESPI技术在位移及应变测量、振动分析等领域的广泛应用前景

激光全息干涉技术是20世纪七八十年代兴起并迅速发展的无损检测技术,其高灵敏度、非接触的特点引起无损检测界的极大兴趣,国内外开展了大量研究工作并且在应变测量、振动分析和缺陷检测等方面得到一些应用。但繁琐的拍照过程、严格的隔振要求,限制了其应用范围。

20世纪90年代前后,计算机技术、电子技术的飞速发展,电子成像取代光学照相,产生了电子散斑干涉(ESPI)和错位散斑(Shearography,下一章专门介绍)技术,大大提高了效率,也降低了隔振要求,但当时图像质量还不是十分令人满意。在2000年前后,高性能数字CCD摄像机和相移技术的采用,使ESPI及错位散斑技术的成像质量得到飞跃,激光全息干涉方法逐步被ESPI和错位散斑所取代。在位移和应变测量、振动分析方面的工作可以被ESPI技术所取代。而激光全息干涉在无损检测领域的应用,除个别项目因为工艺定型原因暂时保留外,几乎已完全被错位散斑技术所取代。(www.xing528.com)

ESPI技术在电子技术,信号处理技术发展的推动下,在提高图像质量、仪器小型化、数据处理智能化等方面持续进步,并将逐渐降低系统成本,在国防及民用行业的位移及应变测量、振动分析等领域都将有广泛的应用前景。

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