【摘要】:借助于试验方法和理论计算,经过大量的研究工作,人们基本上弄清楚了各种因素对漏磁场的影响规律。图5.2-10 裂纹倾角对漏磁场的影响4.缺陷的埋藏深度与漏磁场的关系对于形状大小相同的缺陷,埋藏深度与漏磁场幅值成线性关系,如图5.2-11。图5.2-13 检测器件宽度的影响
借助于试验方法和理论计算,经过大量的研究工作,人们基本上弄清楚了各种因素对漏磁场的影响规律。
1.裂纹深度对漏磁场垂直分量的影响
比较一致的观点是在宽度一定的情况下,在一定的范围内,By(或Hy)的峰-峰值与缺陷深度大致成线性关系,如图5.2-9所示。
图5.2-9 深度和By(p-p)的关系
2.裂纹宽度对漏磁场垂直分量Hy的影响
总结对宽度的大量研究结果,可以得出下面概述性的结论:对于相同深度的矩形槽,在相同的磁化条件下,随着宽度的增加,漏磁场的By(p-p)值首先增加,然后减小,拐点位置和检测器件的提离值有关,当提离值为宽度的两倍左右时到最大。上述结论对于不同的材料、磁化状态可能略有不同。
3.裂纹的倾角α对漏磁场By(p-p)的影响
随着倾角从0°增加到90°,By(p-p)值逐渐增大。其影响见图5.2-10。
图5.2-10 裂纹倾角对漏磁场的影响
4.缺陷的埋藏深度与漏磁场的关系(www.xing528.com)
对于形状大小相同的缺陷,埋藏深度与漏磁场幅值成线性关系,如图5.2-11。
5.提离值L对By(p-p)的影响
随着提离值的增大,By(p-p)值急剧下降,呈现出强烈的非线性,裂纹越深,下降越慢。可以认为By(p-p)按1/L″n减小,n值是变化的,与裂纹的深度有关,如图5.2-12所示。
图5.2-11 裂纹埋藏深度对漏磁场的影响
图5.2-12 提离值对漏磁场的影响
6.检测元件宽度的影响
随着检测元件宽度的增加,测得的By(p-p)值下降,其峰值也向外移,这是检测元件面积平均效应的结果,如图5.2-13所示。
图5.2-13 检测器件宽度(W)的影响
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