通过对比试件法确定缺陷当量值

对于较小的缺陷，可将缺陷的回波高度与对比试件中平底孔孔底面的反射波高直接比较以确定缺陷的当量值。

1）平底孔孔底面的埋深应与缺陷的埋深相同，如果不同，可用两个埋深与之相近的平底孔用插入法进行评定，但不允许采用外推法。在必要时可采用一个能使缺陷处于其远场的探头，因为缺陷处于探头的近场区中时，声压与距离间的关系变化较为急剧，易导致对缺陷大小错误的评价。

图3.5-33 包括近场和远场的AVG图

图3.5-34 实用AVG图

图3.5-35 平表面平底孔铝试块的构形

（尺寸以mm为单位）

A—平底孔直径，可为0.4，0.8，1.2，2.0及3.2mm，±0.0127mm

B—可为2.5，5.0，7.5，10，12.5，15，20，25，30，35，40，45，50，60，70，80，90，100，110，120mm，±0.127mm

C—试块外径：B＜120mm时，C≥50mm

D—孔底必须是平的，平直度为0.025mm/3.2mm

E—孔必须是直的，垂直于入射面，误差小于30′，与试块纵轴同轴，误差小于0.25mm

F—平底扩孔直径6.0mm+0.01mm，深1.6mm+0.2mm用高1.6mm+0.1mm的同材料薄片涂防水胶堵塞

G—这些表面必须是平的，平直度在0.005mm以内，平行度在0.025mm以内

H—编号，顺序为：材料牌号-平底孔直径（mm）-孔底埋深（mm）

2）在声束垂直试件表面入射时所获得的缺陷反射波高可能并不是可获得的最大反射波高，必要时应从不同角度对缺陷进行评估。

3）在可能的情况下，缺陷也应从反面加以评定，因为缺陷的反射特性随声束入射方向的不同可有相当大的差异。

4）如果对比试件和试件之间声性能有所不同，应按本章5.5.2的1所述处理。(www.xing528.com)

5）对于平表面试件，所用平底孔试件的尺寸可如图3.5-35所示，用柱面试件的对比试件则可如图3.5-36所示。每套试块均应采用水浸法（见本章5.5.11）测出将每一平底孔底面反射波高调整到某一相同幅度（如荧光屏满刻度的50%）时所需分贝增益值与孔底面埋深的关系，通过所得数据画出最佳拟合线，如图3.5-37所示。对于一套可接受的对比试件不应有任何点与拟合线的相差大于±1dB。

对于平表面平底孔钢试块，构形与铝试块相同（图3.5-35）尺寸：B：±0.38mm

孔深：1.6mm

D：孔底必须是平的、平面度1mm/125mm，纵轴±0.38mm

孔径容差：对于1.6mm孔或更小些的孔

±0.013mm

对于孔径＞1.6mm的孔

±0.03mm

C：测试距离：B≤152mmC=50.8mm.

305mm＞B＞152mmC=63.5mm

B＞305mmC可更大

图3.5-36 纵波检测用柱面试块构形 （尺寸以mm为单位）

①在此宽度内的顶表面粗糙度优于Ra1.6μm

三个平底孔的直径可为1.2，2.0，3.2mm。

R、A～H的数值可按表3.5-18，不一定要加工一整套，可加工与受检件尺寸最为接近的一些试块。

表3.5-18 试块尺寸示例