扫查前的准备工作详解

1.关于检测灵敏度的调整

（1）试块法调整可在两块平底孔对比试块上进行，平底孔的孔底埋深在一试块中等于超声波进入面的加工余量；在另一块中则处于受检部位下表面的加工余量处，而此试块的厚度应等于受检处试件的厚度。在确定加工余量尺寸时要考虑最终成品件未必能精确按坯料的中心线加工出来，因而要在成品尺寸上增加相应的可能错位尺寸。平底孔的直径由所规定的质量要求确定。在一般情况下，对于所用的仪器和探头的组合，应使来自任一试块中平底孔的最大反射波高至少为荧光屏满刻度的80%，除非另有规定，仪器的“抑制”和“距离—幅度补偿”均应处于关断位置。如果所用试块与受检件之间的声传输特性（如声衰减）有所不同，应通过测量试块和受检件中来自同样深度，同样反射体（如大平底面）的信号幅度差（ΔdB）进行修正。若所需的修正值超过±6dB，则该试块不应采用。

（2）大平底回波法由表3.5-7可知，当一直径为d的圆形反射体位于其直径为D的圆盘声源相距x处，而，则圆形反射体反射声压p_a可表示为

表3.5-17 一份航空航天规范规定的超声纵波检测设备最低性能要求

①对小于5mm的金属板，除满足其他的仪器特性外，为提高入射面分辨力可使用更高频率的脉冲发射接收器。

②1MHz和15MHz的要求仅适用于使用该频率的情况，并非对所有仪器的一般要求。

③平表面铝合金试块，平底孔直径0.8mm，平底埋深76mm。

④平表面铝合金试块，平底孔直径0.4mm，平底埋深76mm。

⑤可用平底孔直径为1.2mm，孔底埋深为3，6.4，9.6，12.7mm的平表面铝合金试块来进行测量。(www.xing528.com)

⑥达到此分辨力时，波高为满刻度80%的平底孔反射波和相邻表面反射波的相交处与时间基线的相距不应超过荧光屏满刻度的40%。

⑦平底孔直径0.8mm。

对于与直径为D的圆盘声源相距y处（y＞3N）的大平底面，反射声压p_b可表示为

由此可得

如果λ、d、所需发现的缺陷与声源的距离x以及试件大平底面与声源的距离y均已知，则先将试件大平底回波高度调到某一基准高度（如荧光屏满刻度的50%）再用仪器的衰减器使增益提高ΔdB，即可得到使x处ϕd的缺陷回波能达到基准高度所需的检测灵敏度。此法仅适用于上下面平行的光滑试件，且应满足推导表达式时所用到的设定条件；优点是无需制作试块。

2.扫查间距的确定

用试块法调整仪器灵敏度是在所用两试块上将孔底最大反射波高调到均不低于荧光屏满刻度的80%，在此灵敏度下，在每一所用试块上测出探头沿孔径方向移动时反射波高从最大值下降6dB的两点间的距离，扫查间距一般不得大于两试块中距离较小值的一半。