封装在不同尺寸慢化器中的中子，其运动是多方向的，它不像电子那样可被聚焦，为了形成一可利用的束，可以将中子源和慢化器包在一中子吸收体的壳内，在壳上有一孔，设置准直器，允许中子射出。显然，所发射中子束的角度散布将受准直器孔长度直径比的限制。准直器入口处至中子检测器间的总长度L和准直器入口处的有效孔径D是中子准直器的重要几何参数，通常以L/D来表示，是中子射线检测系统分辨力的一种量度，也影响准直器的效率。
已有许多类型的准直器可以利用，早期设计成多通道型的，即在准直器孔中设置一束小管或一扎等间距的板，可得到近似平行的中子束，这种类型的准直器中子束损失相当大，且会在射线照相图像上产生图形或条形花纹，须凭经验将L调节到图形或花纹消失，在需要获得高质量照片的情况下仍予以采用。较新设备都采用扩散型准直器，其优点是相对来说入口孔径较小，沿长度均匀发散的中子束到达试件的角散布仅取决于入口孔径和距离，可覆盖很大的被检区域。此外，尚可利用直管型的直线准直器，其优点是可防止射线束发散，在其上配以小孔光阑一起使用，即为小孔准直器，可获得较高的分辨力，小孔光阑可用镉、钆或硼制作。
为了确定L/D，美国材料试验学会提出了“零本影区”技术，其原理是将一根比源直径小得多的具有高中子衰减系数的棒（如镉棒）放在靠近图像平面处，所得到的本影图像可用通过棒中心的一条“白线”来确认。这条“白线”的宽度将随棒与胶片距离的增大而减小，在某一点上本影图像消失，此点被确定为棒的零本影宽度点。参照图2.3-2，从△XYZ相似于△STZ，可以求得L/D
L/D=b/d
式中 D——源的直径；
b——棒至图像平面的距离；
d——棒的直径；(www.xing528.com)
L——源至图像平面的距离。
图2.3-2 零本影几何配置图
由于b＜＜L，L也可被看成是源至棒的距离。图像是客观的指示器，如果用此法确定的L/D值与根据从给定的源尺寸和源至图像平面（胶片）的距离计算出的L/D值不一致，最可能的是本法确定的值更精确，这可进而用针孔法分析源的形状或分析数值上差异存在的其他问题。此法也可用于周期性地校核有效的L/D值。
对于有效的中子射线检测，所用准直器的L/D通常为10或更大。L/D在50～500的准直器大多推荐用于薄壁部件，对于具体试件常由试验作最后确定，这涉及分辨力、对比度、强度、“中子γ射线”比以及试件衰减等的相互关系问题。
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