直射式与斜射式的特点比较

从以上原理分析，上述两种方法都可以用来进行位移和形貌等的测量，但是使用的效果各有不同，它们的主要区别有以下几个方面：

（1）斜射式测量系统中探测器接收的是来自被测物体表面的反射光，比较适合测量表面反射率较高的物体；而直射式测量系统中探测器接收的被测物表面的散射光，因此更适合于测量表面散射性较好的物体。当然，对直射式来说，其对光强要求较高，因为如果散射光强太弱，探测器无法感应就无法测量，这样就可能会出现测量盲区。

（2）直射式的优点是体积较小，而且光斑较小，光强集中，不会因被测物体的移动而扩大光斑。(www.xing528.com)

（3）比较直射式和斜射式公式（2.88）与式（2.92），在相同的a、b、β 的情况下，相同的像点移动距离x 值，斜射式的物体移动距离y 值比直射式的要小，可见斜射式的测量系统传感器分辨能力高于直射式，但它的测量范围较小。而斜入射直接收式测量系统的体积和直入射式相当，并且分辨力高于直射式，因此在小范围测量中较为常用。

（4）比较图2.17与图2.20，斜射式在测量过程中激光投射在被测物体表面的不同地方，因此不能直接给出被测物某具体点的位移，而直射式就可以直接测量出来。

在具体的应用中，应该根据实际情况，如被测面的粗糙度、工作距离、测量范围、安装位置、精度要求等来决定选择哪种类型。