试验调试方法优化方案

1.测试仪器接线及配置

1）将保护通道插件光纤自环。

2）测试仪光纤接线：用3对尾纤分别将测试仪的光口1与线路保护组网口连接，光口2与线路保护直跳GOOSE口1连接，光口3与直跳GOOSE口2连接。

3）测试仪配置。

Goose订阅：订阅本线路保护GOOSE输出，并将保护的跳A、跳B、跳C、闭锁重合闸出口分别映射到测试仪的GOOSE开入A、B、C、D，接收光口选择“光口2”。

GOOSE发布：订阅发布本线路保护对应智能终端GOOSE输出，并映射到光口2，将相应的开关A相位置、B相位置、C相位置、另一套智能终端闭锁重合闸分别映射到仪器的开出1-4。

2.纵联差动保护检验

（1）纵联差动保护低定值检验（稳态Ⅱ段）

1）相关定值。差动动作定值I_cd：1.20A，差动保护时间定值默认为0s[差动保护（稳态Ⅱ段）实际动作时间为40ms左右]。

2）试验条件。

①软压板设置。

a）保护功能软压板：投入主保护软压板、投入停用重合闸软压板。

b）GOOSE发送软压板：投入“GOOSE跳闸出口”软压板，投入“GOOSE启动失灵”软压板，投入“GOOSE闭锁重合闸出口”软压板。

②控制字设置：“通道一差动保护”置“1”、“多相故障闭重”置1、“三相跳闸方式”置“0”。

③开关状态：合上开关（一个半开关接线只需合上一个开关即可，也可以通过GOOSE发布）。

④开入量检查：A相跳位为0，B相跳位为0，C相跳位为0，闭锁重合闸为0。

调试方法见表2-15。

表2-15 纵联差动保护低定值检验

（续）

注：1.计算公式：I=mI_cdK，m为系数，K在通道自环时取0.5。

2.故障试验仪器设置以A相故障为例，B、C相故障类同。

（2）纵联差动保护高定值检验（稳态Ⅰ段）

1）相关定值。差动动作定值I_cd：1.20A，差动保护默认为0s[差动保护（稳态Ⅰ段）实际动作时间为25ms]。

2）试验条件。

①软压板设置。

a）保护功能软压板：投入主保护软压板、投入停用重合闸软压板。

b）GOOSE发送软压板：投入“GOOSE跳闸出口”软压板，投入“GOOSE启动失灵”软压板，投入“GOOSE闭锁重合闸出口”软压板。

②控制字设置：“通道一差动保护”置“1”，“多相故障闭重”置“1”，“三相跳闸方式”置“0”。

③开关状态：合上开关（一个半开关接线只需合上一个开关即可，也可以通过GOOSE发布）。

④开入量检查：A相跳位为0，B相跳位为0，C相跳位为0，闭锁重合闸为0。

3）调试方法见表2-16。

表2-16 纵联差动保护高定值检验

（续）

(www.xing528.com)

注：1.计算公式：I=m1.5I_cdK，K在通道自环时取0.5。

2.故障试验仪器设置以A相故障为例，B、C相故障类同。

（3）纵联零序差动保护定值检验

1）相关定值。差动动作定值I_cd：1.20A，差动保护时间定值默认为0s（零序差动保护实际动作时间为60ms左右）。

2）试验条件。

①软压板设置。

a）保护功能软压板：投入主保护软压板，投入停用重合闸软压板。

b）GOOSE发送软压板：投入“GOOSE跳闸出口”软压板，投入“GOOSE启动失灵”软压板，投入“GOOSE闭锁重合闸出口”软压板。

②控制字设置：“通道一差动保护”置“1”，“多相故障闭重”置“1”，“三相跳闸方式”置“0”。

③开关状态：合上开关（一个半开关接线只需合上一个开关即可，也可以通过GOOSE发布）。

④开入量检查：A相跳位为0，B相跳位为0，C位相跳位0，闭锁重合闸为0。

调试方法见表2-17

表2-17 纵联零序差动保护定值检验

（续）

注：1.计算公式：电容电流I_c=0.9I_cdK，故障电流I=1.35I_c。m为系数，K在通道自环时取0.5

2.故障试验仪器设置以A相故障为例，B、C相故障类同。

（4）CT断线时纵联差动保护定值检验——区内、区外检验

1）相关定值。差动动作电流定值I_cd：1.20A，CT断线差流定值：0.6A，动作时间装置固有（t＜25ms）。

2）试验条件。

①软压板设置。

a）保护功能软压板：投入主保护软压板、投入停用重合闸软压板。

b）GOOSE发送软压板：投入“GOOSE跳闸出口”软压板，投入“GOOSE启动失灵”软压板，投入“GOOSE闭锁重合闸出口”软压板。

②控制字设置：“通道一差动保护”置“1”，“多相故障闭重”置“1”，“三相跳闸方式”置“0”，CT断线闭锁差动置“0”。

③开关状态：合上开关（一个半开关接线只需合上一个开关即可，也可以通过GOOSE发布）。

④开入量检查：A相跳位为0，B相跳位为0，C相跳位为0，闭锁重合闸为0。

3）调试方法见表2-18。

表2-18 CT断线时纵联差动保护定值检验

（续）

注：1.计算公式：I=m1.5I（max[I_cdzd，I_cd.dx]）K（差动电流定值1.2A，CT断线差动定值0.6A）m为系数，K在通道自环时取0.5。

2.故障试验仪器设置以B相断线B相故障为例，A、C相故障类同。

3.CT断线闭锁差动置1时，分相闭锁差动。