开路测量电阻法是指在集成电路未与其他电路连接时,通过测量集成电路各引脚与接地引脚之间的电阻来判别好坏的方法。
集成电路都有一个接地引脚(GND),其他各引脚与接地引脚之间都有一定的电阻,由于同型号的集成电路内部电路相同,因此同型号的正常集成电路各引脚与接地引脚之间的电阻均是相同的。根据这一点,可使用开路测量电阻的方法来判别集成电路的好坏。
在检测时,万用表拨至R×100Ω挡,红表笔固定接被测集成电路的接地引脚,黑表笔依次接其他各引脚,如图9-4所示,测出并记下各引脚与接地引脚之间的电阻,然后用同样的方法测出同型号的正常集成电路的各引脚对地电阻,再将两个集成电路各引脚对地电阻一一对照,如果两者完全相同,则被测集成电路正常,如果有引脚电阻差距很大,则被测集成电路损坏。测量各引脚电阻最好用同一挡位,如果因某引脚电阻过大或过小难以观察而需要更换挡位时,测量正常集成电路的该引脚电阻时也要换到该挡位。这是因为集成电路内部大部分是半导体元器件,不同的欧姆挡提供的电流不同,对于同一引脚,使用不同欧姆挡测量时内部元器件导通程度有所不同,故不同的欧姆挡测同一引脚得到的阻值可能有一定的差距。
采用开路测电阻法判别集成电路好坏比较准确,并且对大多数集成电路都适用,其缺点是检测时需要找一个同型号的正常集成电路作为对照,解决这个问题的方法是平时多测量一些常用集成电路的开路电阻数据,以便以后检测同型号集成电路时作为参考,另外也可查阅一些资料来获得这方面的数据,图9-5所示是一种常用的内部有四个运算放大器的集成电路LM324N,表9-1中列出了其开路电阻数据,测量使用数字万用表200kΩ挡,表中有两组数据:一组为红表笔接11引脚(接地引脚)、黑表笔接其他各引脚测得的数据;另一组为黑表笔接11引脚、红表笔接其他各引脚测得的数据,在检测LM324N好坏时,也应使用数字万用表的200kΩ挡,再将实测的各引脚数据与表中数据进行对照来判别所测集成电路的好坏。
图9-4 开路测量电阻示意图(www.xing528.com)
图9-5 集成电路LM324N
表9-1 LM324N各引脚对地的开路电阻数据
免责声明:以上内容源自网络,版权归原作者所有,如有侵犯您的原创版权请告知,我们将尽快删除相关内容。