【摘要】：对拨号芯片的检测可使用万用表对其供电引脚电压、DP端电压及HS端电压进行测量。图2-28 典型电话机中拨号芯片相关信号的检测方法在上述检测中，供电电压、时钟信号等，均为拨号芯片正常工作的基本条件。若供电电压不正常，则应查主电路板上的稳压电路部分；若时钟信号不正常，则应重点检查拨号芯片的时钟晶体。
在电话机中，拨号芯片多采用大规模集成电路，对该类电路进行检测时，由于无法准确确认其引脚，因此一般可通过对拨号芯片与其他电路板连接的排线引脚进行检测来判断。
1.拨号芯片的检测方法
图解演示
典型电话机中拨号芯片的检测方法如图2-28所示。对拨号芯片的检测可使用万用表对其供电引脚电压、DP端电压及HS端电压进行测量。
图2-28 典型电话机中拨号芯片相关信号的检测方法
在上述检测中，供电电压、时钟信号等，均为拨号芯片正常工作的基本条件。若供电电压不正常，则应查主电路板上的稳压电路部分；若时钟信号不正常，则应重点检查拨号芯片的时钟晶体。
2.时钟晶体的检测方法(www.xing528.com)
图解演示
典型电话机中时钟晶体的检测方法如图2-29所示。将万用表黑表笔接地，红表笔分别搭接晶体的两只引脚，观察万用表读数。
图2-29 典型电话机中时钟晶体的检测方法
提示说明
时钟晶体在电话机中多做为定时元器件使用，以取代集成电路外围由RC分离元器件构成的振荡器。检测晶体时，一般可以用万用表在路检测晶体两个引脚电压，正常时其电压为拨号芯片工作电压的一半。另外，在检测时，用金属轻碰触晶体的另一只引脚，若所测电压有较明显变化，则也可表明晶体正常。
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