小角X射线散射方法的独特特点

透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM）都可以用来观察亚微颗粒（1～200nm）和微孔，它们是研究亚微结构的强有力工具。它们的优点是可以直接观察颗粒的形状和尺寸，可以区别微孔和颗粒；可以观察微小区域内的介观结构，如界面上的颗粒；可以区别不同本质的颗粒。这些优点是小角X射线散射方法所不具备的。然而，TEM和SEM之所以不能取代SAXS，而且SAXS的发展越来越快，是因为小角X射线散射方法存在其他方法无法替代的优点。

（1）当研究溶液中的微粒时，使用SAXS方法相当方便。

（2）当研究生物体的微结构时，SAXS方法可以对活体或动态过程进行研究。

（3）某些高分子材料可以给出足够强的小角X射线散射信号，但由TEM得不到清晰有效的信息。

（4）SAXS可用于研究高聚物的动态过程，如熔体到晶体的转变过程。

（5）电子显微镜方法不能确定颗粒内部密闭的微孔，如活性炭中的小孔；而小角X射线散射能做到这一点。(www.xing528.com)

（6）小角X射线散射可以得到样品的统计平均信息。

（7）小角X射线散射可以准确确定两相间表面和颗粒体积百分数等参数，而TEM方法往往很难得到这些参量的准确结果，因为不是全部颗粒都可以由TEM观察到，即使在一个视场范围内也有未被显示出的颗粒存在。

（8）小角X射线散射方法制样方便。

因此，TEM和SAXS各有优缺点，不能互相代替，两者可以互相补充，结合起来使用。