功率MOSFET的结构剖面图如图5-14所示。它以N+ 型衬底作为漏极,在其上有一层N-型外延层,然后在外延层上掺杂形成一个P型层和一个N+ 型层源极区,最后利用光刻的方法沿垂直方向刻出一个V形槽,在V形槽表面有一层二氧化硅并覆盖一层金属铝,形成栅极。当栅极加正电压时,靠近栅极V形槽下面的P型半导体将形成一个N型反型层导电沟道(图中未画出)。可见,自由电子沿导电沟道由源极到漏极的运动是纵向的,它与第3章介绍的载流子是横向从源极流到漏极的小功率MOSFET不同。因此,这种器件被命名为VMOSFET(简称VMOS管)。
参见图5-14,由于VMOS管的漏区面积大,因此有利于利用散热片散去器件内部耗散的功率。同时沟道长度(当栅极加正电压时在V形槽下P型层部分形成)可以做得很短(例如1.5 μm),且沟道间又呈并联关系(根据需要可并联多个),故允许流过的电流ID很大。此外,利用现代半导体制造工艺,使VMOS管靠近栅极形成一个低浓度的N-外延层,当漏极与栅极间的反向电压形成耗尽区时,这一耗尽区主要出现在N-外延区,N-区的正离子密度低,电场强度低,因而有较高的击穿电压。这些都有利于VMOS制成大功率器件。目前制成的VMOS产品,耐压达1000 V,最大连续电流值高达200 A。
图5-14 VMOSFET结构剖面图
与功率BJT相比,VMOS器件具有以下优点:
① 与MOS器件一样是电压控制电路器件,输入电阻极高,因此所需驱动电流极小,功率增益高。(www.xing528.com)
② 在放大区,其转移特性几乎是线性的,gm(跨导)基本为常数。
③ 因为漏源电阻温度系数为正,当器件温度上升时,电流受到限制,所以VMOS不可能有热击穿,因而不会出现二次击穿,温度稳定性高。
④ 因无少子存储问题,加上极间电容小,VMOS的开关速度快,工作频率高,可用于高频电路(其fT≈600 MHz)或开关式稳压电源等。
VMOS器件还有其他一些优点,例如导通电阻rDS,ON≈3 Ω。目前在VMOSFET的基础上又已研制出双扩散VMOSFET,或称DMOS器件,这是新的发展方向之一。
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