金属管道熔化焊环对接接头射线照相检测

金属管道熔化焊环向对接接头射线照相检测方法可参照GB/T12605—2008实施。该检测方法适用于壁厚为2～175mm的金属管及管道的环向对接接头、对焊制管件（三通或弯头）、焊管（纵缝、螺旋缝）焊接接头，不适用于摩擦焊、闪光焊等机械方法施焊的对接接头。

1.透照工艺

（1）射线检测工艺分级 射线检测技术分为两级：①A级——中灵敏度技术；②B级——高灵敏度技术。

射线检测技术等级选择应符合制造、安装、检修等有关标准及设计图样规定。金属管道对接接头的射线检测，一般采用A级技术进行检测。有较高或特殊要求时，可采用B级技术进行检测。

由于结构、环境条件、射线设备等方面限制，检测的某些条件不能满足A级（或B级）射线检测技术的要求时，经合同双方协商，在采取有效补偿措施（如选用更高类别的胶片）的前提下，若底片的像质计灵敏度达到了A级（或B级）射线检测技术的规定，则可认为按A级（或B级）射线检测技术进行了检测。

（2）表面要求和射线检测时机 在射线检测之前，对接接头的表面质量应经外观检查合格。表面的不规则状态在底片上的图像应不掩盖焊缝中的缺欠或与之相混淆，否则应做适当的修整。

除非另有规定，射线检测应在焊接全部完成后进行。对有延迟裂纹倾向的材料，至少应在焊接全部完成后24h再进行射线检测；对有再热裂纹倾向的材料应在热处理后进行或增加一次检测。

（3）透照方法 透照方法分为内透法和外透法。

1）内透法分为中心全周透照法和偏心透照法。

①中心全周透照法是射线源置于管道的中心，胶片放置在管道环缝外表面上，并与之贴紧（见图7-39）。

图7-39 中心全周透照法

②偏心透照法是射线源置于管道中心以外的位置上，胶片放置在管道外表面相应环缝的区域上，并与之贴紧（见图7-40）。

图7-40 偏心透照法

2）外透法分为单壁外透法、双壁单影法和双壁双影法。

①单壁外透法是射线源置于管道外，胶片放置在离射线源最近一侧管内壁相应焊缝的区域上，并与焊缝贴紧（见图7-41）。

图7-41 单壁外透法

②双壁单影法是射线源置于管道外，胶片放置在远离射线源一侧的管外表面相应焊缝的区域上，并与焊缝贴紧（见图7-42）。

③双壁双影法又分为椭圆成像、重叠成像和小径管双壁双影透照。

椭圆成像是指射线源置于管道外，且使射线的透照方向与环形焊缝平面成适当的夹角，使上下两焊缝在底片上的影像呈椭圆形显示，胶片放置在远离射线源一侧的管道外表面相应焊缝的区域上，并与焊缝贴紧（见图7-43）。

重叠成像是指射线源置于管道外，使射线垂直于焊缝，胶片放置在远离射线源一侧的管道外表面相应焊缝的区域上，并与焊缝贴紧（见图7-44）。

小径管采用双壁双影透照，当同时满足下列两条件时可采用椭圆成像方法透照：T（壁厚）≤8mm，g（焊缝宽度）≤D₀/4。采用椭圆成像时，应控制影像的开口宽度（上下焊缝投影最大间距）在一倍焊缝宽度左右。

不满足上述条件、椭圆成像有困难及对检查根部未焊透有特别要求时，应采用垂直透照方式重叠成像。

图7-42 双壁单影法

a）射线源紧贴管道 b）射线源远离管道

图7-43 椭圆成像

图7-44 重叠成像

（4）透照方式的选择 应根据焊接接头的特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式。在可以实施的情况下应选用单壁透照方式，在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。透照时射线束中心一般应垂直指向透照区中心，需要时也可选用有利于发现缺欠的方向透照。为提高横向裂纹检出率，应优先采用中心全周透照法。

（5）100%透照时最少曝光次数 按下列要求确定最少曝光次数。

1）双壁单影法的最少曝光次数：技术等级为A级时，射线源至管道外表面的距离，当小于或等于15mm时，至少分3段透照；当大于15mm时，至少分4段透照。技术等级为B级时，分段透照的次数应控制透照厚度比K≤1.1。

2）单壁透照法（不含中心全周透照法）的最少曝光次数：技术等级为A级时，分段透照的次数应控制透照厚度比K≤1；技术等级为B级时，分段透照的次数应控制透照厚度比K≤1。

3）小径管采用双壁双影法的最少曝光次数：技术等级选取A级时，对76mm＜D₀≤100mm的管子，至少分两次透照，偏转的透照角度一般应为90°。对D₀≤76mm的管子，允许一次透照成像。技术等级选取B级时，当T/D₀≤0.12时，相隔90°透照2次。当T/D₀＞0.12时，相隔120°或60°透照3次。垂直透照重叠成像时，一般应相隔120°或60°透照3次。

4）整条环向对接接头所需的透照次数可参照曲线图确定：图7-45所示为源在外单壁透照环向对接焊接接头且透照厚度比K=1.1的透照次数曲线图，图7-46所示为偏心内透法和双壁单影法透照环向对接焊接接头且透照厚度比K=1.1的透照次数曲线图，图7-47所示为源在外单壁透照环向对接焊接接头且透照厚度比K=1.2的透照次数曲线图；图7-48所示为偏心内透法和双壁单影法透照环向对接焊接接头且透照厚度比K=1.2的透照次数曲线图。

从图中确定透照次数的步骤是：计算出T/D₀、D₀/f，在横坐标上找到T/D₀值对应的点，过此点画一垂直于横坐标的直线；在纵坐标上找到D₀/f对应的点，过此点画一垂直于纵坐标的直线；从两直线交点所在的区域确定所需的透照次数；当交点在两区域的分界线上时，应取较大数值作为所需的最少透照次数。

图7-45 源在外单壁透照环向对接焊接接头且透照厚度比 K=1.1的透照次数曲线图

（6）射线胶片和增感屏 胶片系统按照GB/T19348.1—2014分为6类，即C1、C2、C3、C4、C5和C6类。C1为最高类别，C6为最低类别。胶片制造商应对所生产的胶片进行系统性能测试，并提供类别和参数。胶片的本底灰雾度应不大于0.3。射线照相一般选用金属增感屏或不用增感屏。胶片和增感屏的选用应符合表7-25、表7-26的规定。

（7）射线能量和曝光量

1）射线能量的选择。取决于透照管道的材料种类、透照方式和透照厚度（w），通常随着射线能量的降低，透照图像的对比度将增加。因此，在保证穿透力和检测范围的前提下，应尽量采用较低的射线能量。

2）X射线的能量选择。使用管电压为400kV以下的X射线透照对接接头时，应根据透照厚度（w）选取管电压值，一般不应超过图7-38的规定。对某些被检区内厚度变化较大的管道透照时，可使用稍高于图7-38所示的管电压。钢最大允许提高50kV；钛最大允许提高40kV；铝最大允许提高30kV。

图7-46 偏心内透法和双壁单影法透照环向对接焊接接头且透照厚度比 K=1.1透照次数曲线图

3）γ射线源和高能X射线的选择。不同种类的γ射线源和高能X射线对钢、铜和镍基合金材料所适用的透照厚度范围如表7-24所示。对于透照厚度差较大的管道，当透照厚度（w）大于或等于10mm时，采用适宜的下射线源透照，可获得较大的检测范围。

4）小径管透照时，电压选取应按下式计算X射线穿透厚度，并按此选取透照电压。

图7-47 源在外单壁透照环向对接焊接接头且透照厚度比 K=1.2的透照次数曲线图

注：D₀为100～400mm。

式中 w——透照厚度；

D₀——管子或管道的公称外径；

T——公称厚度。

5）采用X射线照相，当焦距为700mm时，曝光量的推荐值为不小于15mA·min。当焦距改变时可按平方反比定律对曝光量的推荐值进行换算。

6）采用γ射线源透照时，总的曝光时间应不少于输送源往返所需时间的10倍。

7）小径管对接焊接接头由于结构原因（如有鳍片的管排），只能采用椭圆成像或重叠成像方式透照一次，应选择较高管电压，曝光量宜控制在7.5mA·min以内，管子内壁轮廓应清晰地显现在底片上。

（8）透照厚度 透照厚度w应根据透照方法按表7-28确定。

图7-48 偏心内透法和双壁单影法透照环向对接焊接接头且透照厚度比 K=1.2透照次数曲线图

注：D₀为100～400mm。

表7-28 透照厚度的确定

① θ为透射角。

（9）透照的几何条件 f（源至工件距离）应满足下述要求：A级，f≥10db²/3；B级，f≥15db²/3。式中，b是工件至胶片的距离，d是源尺寸中的最大尺寸，最大尺寸计算方法如下所述。

1）对于X射线源，按下列方法计算：

①边长为a的正方形，按下式计算：

②边长为a和b的长方形，按下式计算：

③长轴长为a，短轴长为b的椭圆形，按下式计算：

d=a

④直径为D的圆形，按下式计算：

d=D

2）γ射线源的物理尺寸取决于源的种类、源的初始强度和源的物理形状，γ射线源最大尺寸d应取各向尺寸中的最大值。以圆柱形γ射线源为例计算：若a为该源的圆柱的直径，b为圆柱的长，则该源的最大尺寸d按下式近似计算：

3）射线源至管道表面的最小距离f也可从诺模图中直接查得。

4）采用中心全周透照法曝光时，只要得到的底片质量符合密度和像质计灵敏度的要求，f值可以减小，但减小值不应超过规定值的50%。

5）采用偏心透照法时，只要得到的底片质量符合密度和像质计灵敏度的要求，f值可以减小，但减小值不应超过规定值的20%。

（10）像质计及放置位置 底片影像质量采用像质计测定。

1）采用的像质计包括规定的系列线型像质计、专用线型像质计及单丝像质计。单丝像质计的型号和规格应符合下列要求。

图7-49 单质像质计

①单丝像质计的形状：单丝像质计由一根金属丝（其长度大于所透照管子的外周长）和铅字符号组成，如图7-49所示。

②单丝像质计的规格与材质：像质计的宽度为15mm，其长度为管周长加15mm。像质计根据不同的透照材料应有相应材质的像质计丝，且有明显的表征丝号和材质的铅字标识。像质计丝和铅字标识的封装应采用非吸收性的薄膜材料。金属丝的材料与适用透照材料范围如表7-29所示。

表7-29 不同材料的像质计适用的透照材料范围

③像质计的线号、直径和偏差如表7-30所示。

表7-30 像质计的线号、直径和偏差 （单位：mm）

2）外径大于100mm的管道，其焊缝透照采用JB/T7902—2006规定的系列像质计。像质计一般应放置在管道源侧表面焊接接头的一端（在被检区长度的1/4左右位置），金属丝应横跨焊缝，细丝置于外侧。

单壁透照一时像质计应放置在源侧。双壁单影透照时像质计应放置在胶片侧。一单壁透照时像质计无法放置在源侧，允许放置在胶片侧，但应进行对比试验。对比试验方法是在射源侧和胶片侧各放一个像质计，用与管道相同的条件透照，测定出像质计放置在源侧和胶片侧的灵敏度差异，以此修正应识别像质计丝号，以保证实际透照的底片灵敏度符合要求。

单壁透照时像质计放置在胶片侧，应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记。“F”标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明。

3）小径管的焊缝透照应采用JB/T7902—2006规定的专用线型像质计（等径金属丝），放置于源侧管表面，金属丝应横跨焊缝放置。

4）外径小于和等于76mm的小径管，当采用一次椭圆透照成像时，应采用单丝像质计评定底片的有效检测范围及底片质量。单丝像质计应紧贴焊缝边缘，围绕管子全周。

5）原则上每张底片上都应有像质计的影像。当一次曝光完成多张胶片照相时，使用的像质计数量允许减少但应符合以下要求：①采用源置于中心全周曝光时，至少在圆周上等间隔地放置4个像质计；②一次曝光连续排列的多个小径管焊接接头时，至少在每张胶片上放置一个像质计，且像质计应放置在射线透照区一侧最边缘的焊接接头上，如表7-31所示。

表7-31 各种透照方式应达到的像质计灵敏度

（11）深度对比试块 为测定对接接头的未焊透和内凹、内咬边等的深度，小径管应采用Ⅰ型深度对比试块（见图7-50和表7-32）；当管子外径大于100mm时，应采用Ⅱ型深度对比试块（见图7-51和表7-33）。对比试块应平行于焊缝放置，且距焊缝边缘大于或等于5mm。

（12）标记

1）透照部位的标记由识别标记和定位标记组成。标记一般由适当尺寸的铅（或其他适宜的重金属）制数字、字母、汉字和符号等构成。

2）识别标记一般包括：产品编号、对接接头编号、部位编号和透照日期。返修后的透照还应有返修标记，返修标记用R1、R2等，其中1、2等表示返修次数。

图7-50 Ⅰ型深度对比试块

a）A类 b）B类

表7-32 Ⅰ型深度对比试块尺寸 （单位：mm）

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图7-51 Ⅱ型深度对比试块

3）定位标记一般包括中心标记和搭接标记。中心标记指示透照部位区段的中心位置和分段编号的方向，一般用十字箭头“↓→”表示。搭接标记是连续检测时的透照分段标记，可用符号“↑”或其他能显示搭接情况的方法表示。

表7-33 Ⅱ型深度对比试块尺寸 （单位：mm）

4）管道表面一般应做出永久保留的标记，以作为对每张底片位置对照的依据。通常采用钢印在管道上做出永久标记，如不适合打钢印时，可用准确的草图做标记。

5）标记一般应放置在距焊缝边缘大于或等于5mm的部位，所有标记的影像不应重叠，且不应干扰有效评定范围内的影像。

（13）防散射线措施

1）暗盒后面应放置厚度为2～3mm的铅板，以消除背散射线对像质的影响。对初次制定的检测工艺，或使用中检测工艺的条件、环境发生改变时，应进行背散射防护检查。检查背散射防护的方法是：在暗盒背面贴附“B”铅字标记，一般“B”铅字的高度为13mm，厚度为1.6mm，按检测工艺的规定进行透照和暗室处理。若在底片上出现密度低于周围背景密度的“B”字影像，则说明背散射防护不够，应增大背散射防护铅板的厚度。若底片上不出现“B”字影像或出现密度高于周围背景密度的“B”字影像，则说明背散射防护符合要求。

2）采用双壁双影法透照小径管焊缝时，应采用金属增感屏、铅板、滤波板、准直器等适当措施，屏蔽散射线和无用射线，提高成像质量。

3）当透照成排管子时，如因管子间散射线影响大，宜在管子间用铅板或其他高密度材料来屏蔽散射线。

2.底片质量

底片质量是透照工艺及胶片质量的综合反映，是评定焊接质量的依据，不符合要求的底片均应视为废片，不得作为质量评定的依据。

（1）像质计灵敏度 底片密度均匀部位（一般是邻近对接接头的母材金属区）能够清晰地看到长度不小于10mm的连续金属丝影像时，则认为该丝是可识别的。专用线型像质计至少应能识别两根金属丝。底片上须显示出对应的像质计丝号。

（2）标记 底片应清晰地显示出定位标记、识别标记等标记，位置正确且不掩盖被检对接接头影像。

（3）伪缺欠 底片有效评定区域内不应有因胶片处理不当引起的伪缺欠影像或其他妨碍评定的伪缺欠影像。

（4）底片密度 底片有效评定范围内的密度应至少符合下列规定。

1）A级：2.0～4.0。

2）B级：2.3～4.0。

用X射线透照小径管或其他截面厚度变化大的工件时，A级最低密度允许降至1.5；B级最低密度可降至2.0。

多胶片方法时，单片观察的密度应符合以上要求。双片叠加观察时，单片的密度应不低于1.3。

如所使用的观片灯亮度能够满足要求，底片的密度允许大于4.0。

（5）对小径管底片的特别要求 外径小于76mm的小径管进行A级检测采用一次透照时，应采取适当措施，使得检出范围达到6%。

3.评片

1）评片应在专用评片室内进行。评片室内的光线应暗淡，室内照明用光不得在底片表面产生反射。

2）评片人员在评片前应经历一定的暗适应时间。从阳光下进人评片的暗适应时间一般为5～10min；从一般的室内进人评片的暗适应时间应不少于30s。

3）评片时，底片评定范围内的亮度应符合下列规定：①当底片评定范围内的密度小于等于2.5时，透过底片评定范围内的亮度应不低于30cd/m²；②当底片评定范围内的密度大于2.5时，透过底片评定范围内的亮度应不低于10cd/m²。

4）评片时允许用放大倍数小于或等于5的放大镜辅助观察底片的局部细微部分。

4.质量评级

（1）一般规定

1）根据焊接缺欠类型、尺寸和数量，将焊接接头质量分为4个等级。

2）长宽比小于或等于3的缺欠（包括气孔、夹杂物、夹渣、夹钨）定义为圆形缺欠。它们可以是圆形、椭圆形或其他不规则的形状。尺寸测量时应以缺欠最长部位为准。

3）长宽比大于3的缺欠定义为条形缺欠，包括气孔、夹杂物、夹渣和夹钨。

4）圆形缺欠用评定区进行评定，评定区长边应与对接接头方向平行且应置于缺欠最严重或集中处，评定区尺寸的选定应根据母材公称厚度确定。

5）当缺欠在评定区边界线上时，应把它划为该评定区内计算点数。

（2）钢、镍、铜制管道环向对接接头射线检测质量分级

1）Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ级对接接头内应无裂纹、未熔合。对接接头内有裂纹、未熔合评为Ⅳ级。

2）圆形缺欠的评级：①评定区应符合表7-34的规定；②评定时需把圆形缺欠尺寸换算成点数，并应符合表7-35的规定；③评定时不计点数的缺欠尺寸应根据母材公称厚度确定，并符合表7-36的规定。

表7-34 缺欠评定区

表7-35 缺欠点数换算表

表7-36 不计点数的缺欠尺寸

3）评定级别：圆形缺欠的对接接头质量分级应根据母材公称厚度和评定区尺寸确定，各级允许点数的上限值符合表7-37的规定。

表7-37 圆形缺欠允许点数的上限值

4）条形缺欠的评级：条形缺欠的对接接头质量分级应符合表7-38的规定。

表7-38 条形缺欠的分级 （单位：mm）

（续）

注：1.表中L为该组条形缺欠最长者的长度，T为母材公称厚度。

2.当被检对接接头长度小于12T（Ⅱ级）或6T（Ⅲ级）时，可按被检对接接头长度与12T（Ⅱ级）或6T（Ⅲ级）的比例折算出被检对接接头长度内条形缺欠的允许值。当折算的条形缺欠总长度小于单个条形缺欠长度时，以单个条形缺欠长度为允许值。

3.当两个或两个以上条形缺欠在任意直线上且相邻间距小于或等于较小条形缺欠尺寸时，应作为单个连续条形缺欠处理，其间距也应计入条形缺欠长度，否则应分别评定。任意直线是指与对接接头方向平行的、具有一定宽度的矩形区，T≤25mm，宽度为4mm；25mm＜T≤100mm，宽度为6mm；T＞100mm，宽度为8mm。

5）未焊透的评级：公称外径D₀＞100mm的管子未焊透的对接接头质量分级应符合表7-39的规定，公称外径D₀≤100mm的管子未焊透的对接接头质量分级应符合表7-40的规定。

表7-39 公称外径D₀＞100mm的管子未焊透的对接接头质量分级

注：1.表中L为断续未焊透中最长者的长度，T为管壁厚度。

2.同一对接接头质量级别中，未焊透深度中占壁厚的百分比和极限深度两个条件须同时满足。未焊透深度的评定用同一底片上深度对比块的影像进行比对。

3.当两个或两个以上未焊透在任意直线上且相邻间距小于或等于较小未焊透长度尺寸时，应作为单个未焊透处理，其间距也应计入未焊透长度，否则应分别评定。

4.当被检对接接头长度小于12T（Ⅱ级）或6T（Ⅲ级）时，可按被检对接接头长度与12T（Ⅱ级）或6T（Ⅲ级）的比例折算出被检对接接头长度内未焊透缺欠允许值。当折算的未焊透缺欠总长度小于单个（连续）未焊透缺欠长度时，以单个（连续）未焊透缺欠长度为允许值。

5.采用氩弧焊打底的对接接头不允许有根部未焊透缺欠。

表7-40 公称外径D₀≤100mm的管子未焊透的对接接头质量分级

注：1.同一对接接头质量级别中，未焊透深度中占壁厚的百分比和极限深度两个条件须同时满足。未焊透深度的评定用同一底片上深度对比块的影像进行比对。

2.当两个或两个以上未焊透在任意直线上且相邻间距小于或等于较小未焊透长度尺寸时，应作为单个未焊透处理，其间距也应计入未焊透长度，否则应分别评定。

3.采用氩弧焊打底的对接接头不允许有根部未焊透缺欠。

6）根部内凹的评级：管子对接接头根部内凹缺欠的质量分级应符合表7-41的规定。

表7-41 管子对接接头根部内凹缺欠的质量分级

注：同一对接接头质量级别中，内凹深度中占壁厚的百分比和极限深度两个条件须同时满足。内凹深度的评定用同一底片上深度对比块的影像进行比对。

（3）铝及铝合金制管道环向对接接头射线检测量分级

1）裂纹、未熔合、夹铜的评级：Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ级对接接头内不允许存在裂纹、未熔合、夹铜，对接接头内存在裂纹、未熔合、夹铜即为Ⅳ级。

2）圆形缺欠的分级评定：①评定区应符合表7-42的规定；②将评定区内的缺欠按表7-43规定换算为点数，按表7-44规定评定对接接头的质量级别；③评定时不计点数的缺欠尺寸应根据母材公称厚度确定，并符合表7-45的规定；④Ⅰ级对接接头和母材公称厚度T≤5mm的Ⅱ级对接接头，不计点数的缺欠在圆形缺欠评定区内不得多于10个，超过10个时，对接接头质量的评级应分别降低一级。

表7-42 缺欠评定区

表7-43 圆形缺欠点数换算表

表7-44 各级别对接接头允许的圆形缺欠最多点数

注：当母材公称厚度不同时，取较薄板的厚度。

表7-45 不计点数的缺欠尺寸 （单位：mm）

3）不加垫板单面焊的未焊透缺欠的分级评定：公称外径D₀＞100mm时，不加垫板单面焊的未焊透缺欠按表7-46进行质量分级评定。公称外径D₀≤100mm的小径管不加垫板单面焊的未焊透缺欠按表7-47进行质量分级评定。

表7-46 公称外径D₀＞100mm不加垫板单面焊的未焊透缺欠质量分级

注：对断续未焊透，以未焊透本身的长度累计计算总长度。未焊透深度的评定用同一底片上深度对比块的影像进行比对。

表7-47 公称外径D₀≤100mm不加垫板单面焊的未焊透缺欠质量分级

注：对断续未焊透，以未焊透本身的长度累计计算总长度。未焊透深度的评定用同一底片上深度对比块的影像进行比对。

4）根部内凹和根部咬边的分级评定按表7-48进行。

表7-48 根部内凹和根部咬边的分级评定

注：同一对接接头质量级别中，内凹深度和根部咬边中占壁厚的百分比和极限深度两个条件须同时满足。内凹和根部咬边深度的评定用同一底片上深度对比块的影像进行比对。

（4）钛及钛合金制管道环向对接接头射线检测质量分级

1）裂纹、未熔合的评级：Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ级对接接头内不允许存在裂纹、未熔合，对接接头内存在裂纹、未熔合即为Ⅳ级。

2）圆形缺欠的分级评定：评定区应符合表7-49的规定。评定时需把圆形缺欠尺寸换算成点数，并应符合表7-50的规定，按表7-51评定对接接头的质量级别。评定时不计点数的缺欠尺寸应根据母材公称厚度确定，并符合表7-52的规定。Ⅰ级对接接头和母材公称厚度T≤5mm的Ⅱ级或Ⅲ级对接接头，不计点数的缺欠在圆形缺欠评定区内不得多于10个；母材公称厚度T＞5mm的Ⅱ级对接接头，不计点数的缺欠在圆形缺欠评定区内不得多于20个；母材公称厚度T＞5mm的班级对接接头，不计点数的缺欠在圆形缺欠评定区内不得多于30个。超过上述规定时对接接头质量应降低一级。

表7-49 圆形缺欠评定区

表7-50 缺欠点数换算表

表7-51 各级别对接接头允许的圆形缺欠最多点数

注：当母材公称厚度不同时，取较薄板的厚度。

表7-52 不计点数的缺欠尺寸 （单位：mm）