测试分析：故障产生部位和元器件损坏的分析方法

根据故障的基本现象、工作原理分析故障产生的部位和有可能损坏的元器件。这是非常关键的一步。有些电子电路通过试机观察，能很快确认故障的大致部位，在不能直接迅速判断故障时，可采用逐级检查的方法逐步孤立故障部位。

（1）判断故障级

在判断故障级时，可采用三种方式：

1）由前向后逐级推进寻找故障级。这时从第一级输入信号，用示波器或电压表逐级测试其后各级输出信号，若发现某一级的输出波形不正确或没有输出时，则故障就发生在该级或下级电路。这时可将级间连线或耦合电路断开，进行单独测试，即可判断故障级。模拟电路一般加正弦波，数字电路根据功能的不同输入方波、单脉冲或高、低电平。

2）由后向前逐级推进寻找故障级。可在某级输入端加信号，测试其后各级输出信号是否正常，无故障则往前推进。如在某级输出信号不正常时，处理方法与1）相同。

3）由中间级直接测量工作状态或输出信号，由此判断故障是在前半部分还是在后半部分，这样一次测量可排除一半电路的故障怀疑，然后再对有怀疑的另一半电路从中间切断测量。如此进行可使孤立故障的速度加快，这种方法对多级放大电路尤为有效。

（2）寻找故障的具体部位和元器件(www.xing528.com)

故障级确定后，寻找故障具体部位可按以下几步进行。

1）检查静态工作点。可按电路原理图所给的静态工作点进行对照测试，也可根据电路元器件参数值进行估算后测试。以晶体管为例，对线性放大电路，则可根据估算和判断电路工作状态是否正常。

U_c=（1/2～1/3）U_CC，U_e=（1/6～1/4）U_CC，U_be硅=0.5～0.7V，U_be锗=0.2～0.3V

对于开关电路，如果晶体管应处于截止状态，则根据U_be电压加以判断，它应略微处于正偏或反偏；如果晶体管应处于饱和状态，则U_ce小于U_be，若工作点值不正常，可检查该级电路的接线点以及电阻器、晶体管是否完好，查出故障所在点，若仍不能找出故障，则应作动态检查。对于数字电路，如果无论输入信号如何变化，输出一直保持高电平不变时，这可能是被测集成电路的地线接触不良或未接地线，如输出信号的变化规律和输入的相同，则可能是集成电路未加上电源电压或电源接触不良所致。

2）动态的检查。要求输入端加检查信号，用示波器（或电子电压表）观察测试各级各点波形，并与正常波形对照，根据电路工作原理判断故障点所在。