LRU缓存性能测试预测

1.测试性预计所需资料

LRU 测试性预计输入的主要资料包括：

（1）LRU 的测试性框图；

（2）LRU 的接线图、流程图和机械布局图等；

（3）可靠性预计和FMFA（CA）结果；

（4）内、外部观察测试点位置；

（5）输入/输出信号；

（6）LRU 的BIT 设计资料；

（7）LRU 维修方案、测试设备规划的资料等。

2.测试性预计步骤

1）BIT 分析

分析LRU 的BIT 软件和硬件可检测和隔离的故障模式及故障率。

2）输入/输出（I/O）信号分析

分析利用ETE（自动的或半自动的）可检测和隔离的故障模式，主要包括分析工作连接器I/O 信号可检测和隔离的故障模式及其故障率、分析专用检测连接器I/O 信号可检测的故障模式及其故障率，BIT 已用的I/O 信号不再重复分析。

3）测试点可观测性分析

针对未设置BIT 功能且无法通过ATE 检测的故障模式，对LRU 中SRU 的工作状态测试点进行可观测性分析，评估测试点对SRU 工作状态、故障状态、故障隔离、信息传输等状态是否满足故障诊断和故障隔离需求。(www.xing528.com)

4）填写LRU 测试性描述表

根据系统研制过程中所有的测试性资料填写LRU 测试性描述表，见表7-8。LRU 测试性描述表中各栏填写内容说明见表7-9。

表7-8　LRU 测试性描述表

表7-9　LRU 测试性描述表中各栏填写内容说明

5）填写LRU 测试性预计工作表

将BIT 分析、I/O 信号分析及测试点可观测性分析所得数据填入LRU 测试性预计工作表，并计算故障检测率和隔离率。LRU 测试性预计工作表见表7-10，LRU 测试性预计工作表中各栏填写内容说明见表7-11。

表7-10　LRU 测试性预计工作表

表7-11　LRU 测试性预计工作表中各栏填写内容说明

续表

6）提出建议

将预计结果与任务书的规定指标比较，若不符合要求，提出改进LRU 测试性设计的建议。