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使用双丝型像质计测试系统的分辨率规定优化

时间:2023-06-28 理论教育 版权反馈
【摘要】:双丝型像质计应直接放置在探测器表面或盒式表面,应按照ISO 19232-5确定探测器基本空间分辨率SRb。2)如果双丝像质计IQI是放置在测试部件,而不是直接放置在探测器上,应是测量图像基本空间分辨率的结果,不是探测器基本空间分辨率SRb。

使用双丝型像质计测试系统的分辨率规定优化

1)线性灰度水平的先决条件,测量正确的基本空间分辨率值。这意味着在给定位置的图像灰度值需要正比辐射曝光量。这通常是由厂家给定的软件

双丝型像质计应直接放置在探测器表面或盒式表面,应按照ISO 19232-5确定探测器基本空间分辨率SRb

2)如果双丝像质计IQI是放置在测试部件,而不是直接放置在探测器上,应是测量图像基本空间分辨率的结果,不是探测器基本空间分辨率SRb

3)如果第一个线对认为不清晰(见ISO 19232-5),降低20%应用如下。

在数字X射线图像上,与双峰值的大小相比(见图A-2),第一线对调整(降低)不到20%应记录IQI测试的结果,如图A-2c中的D8所示。一个图像处理软件型线(轮廓)功能,应将用来识别第一线对下降不到20%(平均超过两个最小值,见图A-2d)。这双丝像质计外形应是平均(见图A-2b和c)至少有21单线外形轮廓来提高信噪比SNR。

图A-2 双丝像质计测值、计算实例(IQI生成第一低于20%的D8值)

使用双丝像质计IQI,符合ISO 19232-5规定,确定图像固有不清晰度ui和探测器基本的空间分辨率SRb应计算:

双丝像质计IQI,应置放在与像素行或列取向大约2°到5°角度,为避免混淆效果如图A-2a。

4)确定数字探测器系统基本空间分辨率SRb,应当按下列之一没置放部件条件下曝光:

a)轻合金的检验:

①管电压为90kV;

②滤波器为1mm的铝。(www.xing528.com)

b)检验钢和铜合金≤20mm穿透厚度:

①管电压为160kV;

②滤波器为1mm铜。

c)检验钢和铜合金>20mm穿透厚度:

①管电压为220kV;

②滤波器为2mm铜。

d)伽马射线探伤或高能射线照相法:

①使用1MV及以上伽马射线源或X射线源;

②对Se75、Ir192滤波器用2mm铜或4mm钢和对Co60或大于1MV时X射线滤波器用4mm铜或8mm钢。

5)双丝像质计应直接放置在探测器表面或盒表面。源到探测器的距离应当(100±5)cm。数字图像里平均灰度值,对标准系统≥80μm像素大小应超过最大灰度值50%的信噪比要多100,对于高分辨率与<80μm的像素大小,应超过最大灰度值50%的信噪比要多70,这些都是对选用参考射线图像而言。基本的空间分辨率(见图A-2)按照参考射线图像实测,为数字系统使用和系统设置应记录在测试报告里。

探测器空间分辨率的CR系统基本应测量两个垂直和平行于扫描方向的激光。更高的数值的两个SRb值应当作为生成的检测器基本空间分辨率(SRb或探测器SRb)。

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