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实验二:射线成像图像分辨率和不清晰度测试步骤优化

时间:2023-06-28 理论教育 版权反馈
【摘要】:系统图像分辨率和图像不清晰度测试步骤1)调整成像系统达到测试要求。表9-6 AB级技术X射线成像的图像分辨率、不清晰度和像质计灵敏度测试值①f值为射线源至工件表面距离。7)底片观察与评审:a)底片观察与评审时,应满足JB/T 4730.2—2005标准中评片要求;b)测量底片黑度D=1.8~2.5范围内;c)在底片观察灯上测定底片图像的像质计灵敏度、图像分辨率值、图像不清晰度值;d)将确定的各项数值填入表9-6和表9-7中。

实验二:射线成像图像分辨率和不清晰度测试步骤优化

1.图像不清晰度和图像分辨率测试

(1)测试布置

射线成像图像不清晰度测试参照EN 13068-2∶2000《无损检测 射线透视检测 第2部分:成像设备长期稳定性的校验》和EN 13068-3∶2001《金属材料X-射线和γ射线射线透视检测基本原则》标准中相关项目进行布置,如图9-2所示。

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图9-2 总系统图像不清晰度测试布置图

1—射线源 2—射线滤波器 3—图像质量指示器 4—转换设备 5—输出信号 6—图像处理 7—显示单元 8—准直器 9—被检测物体 a—射线源到第一准直器的距离 b—射线源到第二准直器的距离 c—射线源到转换设备的距离 d—滤波器厚度 e1、2—第一准直器、第二准直器的厚度 f—射线源到被检测物体的距离

图9-3穿过双丝的强度轮廓图中,调制深度最接近20%的双丝号数,以自身调制深度的数值都被估计和记录归档,并根据EN462-5,第一个不能被分辩的线对应记录到归档文件里。

(2)实验条件

1)射线源:使用各种型号、能量的X射线机;Se75、Ir192、Co60γ射线源。

2)射线滤波器:含量99%铜板,厚度为0.3mm。

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图9-3 穿过双丝强度轮廓图

3)准直器:铅板,厚度为1mm;(在散射线有效屏蔽情况下可不用准直器)。

4)测试指示器:像质计:JB/T 4730.2—2005标准中规定的10号、6号像质计;双丝像质计:BS EN 462-5:1996;线对测试卡:TYP 56,0.25~10Lp/mm,0.05mmPb。

5)叠加试板:钢制实验用试板,叠加厚度范围为5~120mm。

6)射线转换装置:Varian2520V;PE XRD 0820 MN-14 IND。

(3)系统图像分辨率和图像不清晰度测试步骤

1)调整成像系统达到测试要求。

2)射线源、透照厚度、像质指数规定:按JB/T 4730.2—2005标准规定见表9-5。

表9-5 JB/T 4730.2—2005标准规定透照钢部件技术指标

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3)叠加成像厚度:5mm、10mm、15mm、20mm、25mm、30mm、35mm、40mm、50mm、70mm、80mm、100mm、120mm13个档次。

4)在图9-2的布置中,调整射线源焦点至射线接收转换装置输入屏表面距离分别为F=700mm;F=400mm;F=500mm;F=600mm;F=800mm;F=1000mm。

5)将线对测试卡、像质计、双丝像质计按规定紧贴在朝向射线源侧叠加试板表面中心区域,试板上面的线对栅条与试板长边平行,而试板长边和X射线管平行,置放在射线接收转换装置输入屏中心区域。

6)使用铅板屏蔽散射线,达不到要求时再用铜或铅滤波板滤波。

7)X射线源、γ射线源透照参数按曝光曲线选取;图像灰度值控制在6000~9000范围内。

(4)图像观察

1)考虑到人眼分辨能力的影响,可用5倍放大镜来观察,要分别作记录;

2)在显示屏上观察线对测试卡影像,观察到栅条刚好分离的一组线对,则该组线对所对应的值即为图像分辨率值;

3)在显示屏上观察双丝像质计影像,刚好从两根分离的金属丝重合成单根时最大的尺寸单元影像即为图像不清晰度;

4)将观察到图像分辨率、图像不清晰度、像质计灵敏度值填入表9-6和表9-7中。

表9-6 AB级技术X射线成像的图像分辨率、不清晰度和像质计灵敏度测试值(www.xing528.com)

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①f值为射线源至工件表面距离。

表9-7 AB级技术γ射线照相的图像分辨率、不清晰度、灵敏度测试值等

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2.射线照相对比试验

(1)JB/4730.2—2005标准中AB级射线检测技术

1)射线照相同图9-2布置,将射线转换装置部分换成装有天津Ⅲ型射线照相胶片的暗袋。

2)在图9-2的布置中,调整射线源焦点至X射线照相胶片暗袋表面距离分别为F=700mm;F=400mm;F=600mm;F=800mm;F=1000mm。

3)将线对测试卡、像质计、双丝像质计按规定紧贴在朝向射线源侧叠加试板表面中心区域,试板上面的线对栅条与试板长边平行,而试板长边和X射线管平行,放置在射线接收转换装置输入屏中心区域。

4)使用铅板屏蔽散射线,达不到要求时再用铜或铅滤波板滤波。

5)X射线源、γ射线源透照参数按曝光曲线选取,底片黑度值控制在D=1.8-2.5范围。

6)暗室处理:

a)显影温度为20°±1°;

b)显影液药力中等;

c)X射线透照显影时间为5min;γ射线透照显影时间为6~8min;

d)定影时间为15~20min;

e)水冲洗30min脱水烘干。

7)底片观察与评审:

a)底片观察与评审时,应满足JB/T 4730.2—2005标准中评片要求,可用5倍放大镜;

b)测量底片黑度D=1.8~2.5范围内;观片距离约为250mm;

c)在底片观察灯上测定底片图像的像质计灵敏度、图像分辨率值、图像不清晰度值;

d)将确定的各项数值填入表9-6和表9-7中(注:表9-6中的图像不清晰度重新填)。

(2)JB/4730.2—2005标准B级射线检测技术

1)射线照相同图9-2布置,将射线转换装置部分换成装有天津Ⅴ型射线照相胶片的暗袋。

2)在图9-2的布置中,调整射线源焦点至X射线照相胶片暗袋表面距离分别等于F=700mm;F=400mm;F=600mm;F=800mm;F=1000mm。

3)~6)同AB级射线检测技术中的3)~6)项。

7)底片观察与评审:

a)底片观察与评审时,应满足JB/T 4730.2—2005标准中评片要求;

b)测量底片黑度D=1.8~2.5范围内;

c)在底片观察灯上测定底片图像的像质计灵敏度、图像分辨率值、图像不清晰度值;

d)将确定的各项数值填入表9-6和表9-7中(注:表9-6中的图像不清晰度重新填,并将表题中的AB级改为B级即可)。

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