如何进行FT-IR基线校正？

基线偏移是红外线光谱分析中最常见的一种现象，是指实际所得光谱的基线并非水平的现象，产生这种偏移的主要原因是因为探测器的响应、光源强度以及光强的波动等原因。

对于实际得到的红外线吸收光谱一般都进行了基线校正，顾名思义，基线校正指的是将吸收光谱的基线通过计算机的处理人为的拉回到0基线上。图4-4-1所示基线校正前后的红外线光谱对比情况。

基线校正相对来讲比较好完成，通常分为自动基线校正和人为校正两种，前者指通过一些事先在仪器中预设好的算法进行校正，比较传统的是rubberband基线校正，后者是指通过人为手工的方法采用逐点校正的方法进行校正，显然后者更费时间，校正效果更好。

通常认为如果谱图中未大量出现干涉条纹（也就是因为噪音导致图谱变化），谱图仅仅只是出现了基线倾斜和漂移，采用自动基线校正的效果较好。否则由于无法对干涉条纹进行评估和分析，采用自动基线校正的效果将很不稳定，近几年以来，在基线算法研究上出现了采用递归分解近似光谱和光谱的细节成分的算法进行基线校正的方法[32]，取得较好的基线校正效果。(www.xing528.com)

图4-4-1　基线校正前后对比

图4-4-1可以看出，不管采用哪种方式都是将光谱往0线上“移”，并不会改变光谱本身的形态，也就是吸收峰的峰位并不会发生改变，但吸收峰的面积肯定会因为“拉动”发生改变，偏移、倾斜越严重则面积改变越大。