半导体分立器件的检测优化方案

1.二极管的检测

数字式万用表设有专门测量二极管的挡位,可以很方便地确定二极管的好坏及极性。但与老式指针万用表测二极管的电阻值不同,数字式万用表的二极管测量挡是测量二极管两极之间的导通压降,测量结果是电压。

数字式万用表测二极管的步骤:

将数字式万用表置于二极管测量挡,然后用红表笔接二极管的一极,黑表笔接另一极,测出一个电压值,如果该电压在0.55～0.70 V范围内,说明被测二极管是一个完好的硅二极管;如果该电压在0.15～0.30 V范围内,说明被测二极管是一个完好的锗二极管;这两种情况下测出的是被测二极管的导通压降,此时与数字式万用表红表笔相连的是被测二极管的正极。

如果测量结果显示为零,说明管子已短路;若测量结果溢出或过载,说明二极管内部开路或处于反向状态,此时可以将红黑表笔对调继续测量,根据以上原则进行进一步的判断。

2.晶体管的检测

(1)分步法

首先,将晶体管看成两个背靠背的PN结,按照数字万用表检测二极管的方法,可以检测判断出其中一极为公共正极或公共负极,此极即为晶体管的基极b。对于NPN型晶体管,基极是公共正极;对PNP型晶体管,基极则是公共负极。由此可以判断被测晶体管是NPN或PNP型。(www.xing528.com)

与二极管的判断方法相同,如果通过测量不能判断出PN结的方向,则晶体管损坏。

其次,用数字式万用表β(hFE)挡检测判断晶体管的发射极和集电极。数字万用表置hFE挡,将晶体管基极插入所对应类型的孔中,其余管两个脚分别插入c、e孔,读取万用表显示的数据;将c、e孔中的管脚对调,再一次读取数据;对比两次测量数据,数值较大的一次管脚插接正确。

(2)假设法

数字式万用表置于二极管测量挡,红表笔与晶体管的某一管脚,假设该管脚为晶体管基极。然后用黑表笔分别与晶体管另外两个管脚相连,如果万用表两次都显示有零点几伏的电压——锗管为0.3左右,硅管为0.7左右,那么假设成立,红表笔所接管脚是晶体管基极b,并且该晶体管为NPN;如果两次显示超载,也可能是假设成立,红表笔所接管脚是晶体管基极b,但该晶体管为PNP型。但是,如果晶体管内部PN损坏也会出现两次测量超载的结果,因此这种情况下应红黑表笔交换,进一步测量判断。

在判别出晶体管的型号和基极的基础上,可以再判别发射极和集电极。万用表仍置于二极管测量挡,对于NPN型晶体管使红表笔接其基极b,黑表笔分别接另外两个管脚测得两个PN结导通电压,对比两次测量电压值,微高的一次黑表笔所接为发射极e;电压低一些的黑表笔所接为集电极c。如果是PNP型晶体管,则用黑表笔接基极,方法和上面类似。

(3)测晶体管hFE判断性能

如果已知晶体管的类型和管脚排列,可以方便地使用数字式万用表的β(hFE)挡检测晶体管的好坏,将被测晶体管e、b、c三个管脚分别插入数字式万用表面板对应的晶体管插孔中,能够显示出hFE的近似值,则晶体管性能完好,否则已损坏。