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晶体管:结构、材料及测量方法

时间:2023-06-27 理论教育 版权反馈
【摘要】:晶体管有3个电极。目前制作晶体管的材料主要有硅和锗两种,每一种材料的晶体管根据结构不同又分为NPN型与PNP型。若红表笔接任意1个引脚、黑表笔接第2个引脚时,显示屏显示的数值为0.5~0.7,而黑表笔接第3个引脚时,数值为无穷大,则让黑表笔重新接第2个引脚,用红表笔接第3个引脚,若显示屏显示0.5~0.7,说明该管是PNP型晶体管,并且第2个脚就是基极。2)不在路晶体管测量。

晶体管:结构、材料及测量方法

晶体管是一种常用的具有两个PN结的半导体晶体器件,其外形如图2-32所示,晶体管在电路中用“V”或“VT”(旧文字符号为“Q”、“GB”等)表示。其电路符号如图2-33所示。

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图2-32 晶体管外形图

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图2-33 普通晶体管的电路符号

常用晶体管的引脚排列(从底部看)如图2-34所示。

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图2-34 常用晶体管的引脚排列

晶体管它的应用十分广泛,在电路中通常起电流放大与开关作用。

晶体管有3个电极。目前制作晶体管的材料主要有硅和锗两种,每一种材料的晶体管根据结构不同又分为NPN型与PNP型。晶体管有塑封和铁封两种。

1.普通晶体管

部分大功率晶体管的外形和双二极管(即两个二极管组成的元件,也为3个引脚)、场效应晶体管极为相似,判断时应注意区分,以免造成误判。

2.普通晶体管的检测

(1)晶体管类型及基极判别

判断晶体管是NPN型,还是PNP型,并判断出哪个引脚是基极,对于普通晶体管的维修或代换是非常重要的,判断时可采用数字式万用表的二极管挡,也可以采用指针式万用表的电阻挡。

1)数字式万用表判别方法。

先假设晶体管的任意1个引脚为基极,随后将万用表置于二极管挡,用红表笔接晶体管假设的基极,再用黑表笔分别接其他第2、3个脚,若万用表显示数值都为0.5~0.7,说明假设的引脚的确是基极,并且该管为NPN型晶体管,如图3-35所示。

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图2-35 数字式万用表判别NPN型晶体管

晶体管的3个引脚的端点依序称为发射极(emitter,E)、基极(base,B)和集电极collector,C),名称来源和它们在晶体管操作时的功能有关。

若红表笔接任意1个引脚、黑表笔接第2个引脚时,显示屏显示的数值为0.5~0.7,而黑表笔接第3个引脚时,数值为无穷大(有的数字式万用表显示“1.”,有的显示“OL”),则让黑表笔重新接第2个引脚,用红表笔接第3个引脚,若显示屏显示0.5~0.7,说明该管是PNP型晶体管,并且第2个脚就是基极。

若红表笔接任意1个引脚,黑表笔接其他2、3个引脚时,显示屏显示的数值为无穷大,说明假设的引脚不是基极,需要重新假设,再进行测量即可。

2)指针式万用表判别方法。(www.xing528.com)

采用指针式万用表判别管型和基极时,首先将万用表置于R×1k挡,黑表笔接假设的基极,红表笔接另两个引脚时指针指示的阻值为10kΩ左右,则说明假设的基极正确,并且被判别的晶体管是NPN型。

红表笔接假设的基极、黑表笔接另两个引脚时指针指示的阻值为10kΩ左右,则说明红表笔接的引脚是基极,并且被测量的晶体管是PNP型。

(2)晶体管好坏的判断

用万用表检测晶体管好坏时,可采用在路测量和单晶体管测量两种方法。

1)在路测量。

①用数字式万用表测量。

如图2-36所示,将数字式万用表置于二极管挡,在测量NPN型晶体管时,红表笔接晶体管的b极,黑表笔分别接c极和e极,所测的正向电阻显示都应在0.665左右;用黑表笔接b极,红表笔接c极时,阻值为无穷大(显示“1.”),而be结的反向电阻显示为1.974;而c、e极间的正向电阻的阻值显示为1.209,反向电阻的阻值为无穷大。若测得的数值偏离较大,则说明该晶体管已坏或电路中有小阻值元器件与它并联,需要将该晶体管从电路板上取下或引脚悬空后再测量,以免误判。

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图2-36 测试晶体管的好坏

引脚的判别将万用电表置于电阻R×1k挡,用黑表笔接晶体管的某一引脚(假设作为基极),再用红表笔分别接另外两个引脚。

如果指针指示的两次都很大,该管便是PNP管,其中黑表笔所接的那一引脚是基极。若指针指示的两个阻值均很小,则说明这是一只NPN管,黑表笔所接的那一引脚是基极。如果指针指示的阻值一个很大,一个很小,那么黑表笔所接的引脚就不是晶体管的基极,再另换一外引脚进行类似测试,直至找到基极。

②指针式万用表测量。

如图2-37所示,将指针式万用表置于R×1挡,在测量NPN型晶体管时,黑表笔接晶体管的b极,红表笔分别接c极和e极,所测的正向电阻都应在20Ω以内。

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图2-37 检测晶体管

用红表笔接b极,黑表笔接c极和e极,无论表笔怎样连接,反向电阻都应该是无穷大;而c、e极间的正向电阻的阻值应大于200Ω,反向电阻的阻值应为无穷大;如图2-38所示,否则,说明该晶体管已坏。

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图2-38 检测c、e极

由于半导体制造工艺的原因,晶体管内部不可避免地会有一定容值的结电容存在,当输入信号频率达到一定程度时,它们会使得晶体管的放大作用“大打折扣”,更糟糕的是,它还会因此引起额外的相位差。

2)不在路晶体管测量。

在测量NPN型晶体管时,和在路测量的方法一样,但反向电阻的阻值必须是无穷大。

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