1.工作曲线法
现代仪器分析中直接测定的数值大多是光、电等物理信息，通过线性方程与被测物理量相关联。几乎所有仪器分析的程序都是首先测定一系列的标准物，并绘出工作曲线，然后来分析样品。通过误差分析，可以得到提高工作曲线法的精密度的途径。
（1）增加工作曲线的标准点数。
（2）增加未知样品的测定次数。
（3）增大工作曲线的斜率。
测定方法的灵敏度一般用工作曲线的斜率表示。斜率越大，测定方法的灵敏度越高。研究测定方法的灵敏度的目的就是为了选择提高灵敏度的最佳条件，控制好最佳条件，能减小斜率值的波动性。当工作曲线通过零点，而各试验点又均落在工作曲线上时，属于理想情况。但是一般很难满足这个条件，所以应当用最小二乘法求算出灵敏度数值。
2.空白分析
空白分析包括样品的沾污、样品的损失和仪器噪声水平。而在痕量与超痕量分析中最容易出现的是样品的沾污，由于样品沾污产生的空白称为分析空白。分析空白对痕量分析结果的准确度、精密度和方法检测下限起着决定性作用。样品沾污问题是决定超痕量分析成败的因素之一。降低分析空白是提高准确度、精密度和延伸检测下限的关键。
3.分析空白的主要来源和控制措施(www.xing528.com)
（1）环境对样品的污染主要由空气中的污染气体和沉降微粒引起。普通试验室中每立方米空气中含有数百微克的微粒，这些微粒含有多种元素，因而可引起多种痕量元素的沾污。来自环境的沾污不但显著，而且变动大，应采取局部或整个试验室的防尘与空气净化措施。
（2）试剂对样品的沾污。试剂对样品的沾污随试剂用量变化而变化，对一定的试剂用量是恒定的。样品处理过程中用量最多的是水和酸。采用高纯水、酸和减少试剂用量是降低试剂空白的主要措施。
（3）器皿对样品的沾污。贮存、处理样品所用的一切器皿，如烧杯、瓶子、过滤器、研钵等，由于其材质不够纯或未洗涤干净，因此均可能沾污样品。在痕量分析过程中，应选用高纯材料制成的器皿，并运用合适的清洗技术。
（4）分析者对样品的沾污。分析者用手触摸样品可引起多种元素的沾污；分析者的化妆品常不知不觉地带来许多元素的沾污；分析者使用的内服和外服药物也常常沾污样品；分析者若不注意个人卫生也会引起样品的沾污。
由于空白值波动很大，往往在百分之几十，甚至百分之几百的水平上波动，因而在痕量与超痕量分析中，扣除空白是比较困难的，也是不可靠的。可靠与行之有效的方法是把分析空白降至可以忽略不计的程度，同时在分析过程中做空白的平行测定，以监视分析过程。若分析空白明显地超过正常值，则表明该次分析测定过程有严重的沾污，平行样品的测定结果不可靠。当分析空白主要来自试剂的沾污时，空白值比较稳定，若有必要，可以扣除空白值。
为了获得可靠的空白值，应进行多次重复测定，算出空白值及其置信限
若样品的测定结果为
则扣除空白后的结果及置信限为
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