由于二极管存在半导体体电阻和引线电阻,所以当外加正向电压且流过电流相同的情况下,二极管的端电压大于PN结上的压降。同时,由于二极管表面漏电流的存在,使得外加反向电压时的反向电流增大。
在近似分析时,仍然用PN结的电流方程式(1.1.1)来描述二极管的伏安特性。图1.2.2(a)和(b)分别是硅材料二极管和锗材料二极管的伏安特性曲线,两者在局部细节上还是有些差别的。
1.正向特性
图1.2.2(b)的第①段为正向特性。在正向特性的起始部分,由于正向电压较小,外电场还不足以克服PN结的内电场,因而这时的正向电流几乎为零,二极管呈现出一个大电阻。硅管的开启电压Uth(又称死区电压)约为0.5 V,锗管的Uth约为0.1 V,当正向电压大于Uth时,内电场大为削弱,电流迅速增长,二极管正向导通。二极管导通后,曲线较垂直陡峭,管子呈现的正向电阻很小。通常认为,硅管正向导通压降Uon为0.6~0.8 V,锗管正向导通压降Uon为0.1~0.3 V,见表1.2.1。
图1.2.2 实际二极管的伏安特性曲线
2.反向特性(www.xing528.com)
少数载流子在反向电压作用下很容易通过PN结,形成反向饱和电流。由于少数载流子的数目很少,反向电流很小,如图1.2.2(b)的第②段所示。对比图1.2.2(a)和(b)的反向特性部分,可以看出,一般硅管的反向电流比锗管小得多,见表1.2.1。
表1.2.1 硅(Si)、锗(Ge)二极管参数比较
3.反向击穿特性
当反向电压增加到一定值(UBR)时,反向电流将急剧增加,对应于图1.2.2(b)的第③段,这个现象就称为PN结的反向击穿。发生击穿所需的反向电压UBR称为反向击穿电压,反向击穿电压的大小与PN结制造参数有关。
4.温度对二极管伏安特性的影响
在环境温度升高时,二极管的正向特性曲线将左移,反向特性曲线将下移,如图1.2.3虚线所示。在室温附近,若正向电流不变,则温度每升高1 ℃,正向压降减小2~2.5 mV;温度每升高10 ℃,反向电流IS约增大一倍。可见,二极管的特性对温度很敏感。
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