【摘要】：一般认为只要探测率足够高，探测器输出有足够的信噪比，信号较弱是可以用电路放大的方法弥补的。然而，如利用探测率较低但响应率高的探测器，得到的探测性能会更好一些。因此，在实际的应用设计过程中，需要综合考虑探测器的响应率和探测率。图3-37所示为频率与热探测率之间的关系曲线。
通过利用黑体辐射炉、斩波器、计算机软件系统以及设计的电路测试系统，测试并计算得到如下图的试验结果。对于热电探测器的两个重要的试验测试关系被阐述如下：在实际使用过程中，对于辐射恒定的功率能量，热探测器具有多大的电压输出信号，以电压形式表示，它不管噪声的大小，只反应单位辐射功率入射到探测器上产生的信号大小，随着光源频率的改变，其响应信号输出是不一样的，其频率与热响应之间的关系的测试结果描述如图3-36所示；而热探测率是用来度量探测器的探测能力的，反应对外界变化敏感的能力，它需要考虑噪声电压、探测器的敏感元面积以及测量电路的带宽等综合因素，随着频率的改变，其热探测率的关系描述如图3-36所示。从图中可以看出，在频率为1～10Hz范围内具有较大的热探测率值，这与本章最开始的理论计算是一致的。
一般认为只要探测率足够高，探测器输出有足够的信噪比，信号较弱是可以用电路放大的方法弥补的。实际上当响应率过低，设计中就必须提高前置放大器的放大倍数，而采用高倍数的前置放大器通常会引入更多的噪声。然而，如利用探测率较低但响应率高的探测器，得到的探测性能会更好一些。因此，在实际的应用设计过程中，需要综合考虑探测器的响应率和探测率。图3-37所示为频率与热探测率之间的关系曲线。
图3-36 频率与热响应之间的关系(www.xing528.com)
图3-37 频率与热探测率之间的关系曲线
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